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IEEE1149.1产生新标准
1
作者
dave bonnett
《电子质量》
2002年第8期22-27,共6页
研制边界扫描原先是为了检验IC引线与PCB连接轨迹,现在它已被用于支持芯片调试、设备编程、混合信号测试和现场服务。
关键词
混合信号测试
PCB测试
在板闪速编程
芯片调试
边界扫描
新标准
IEEE1149.1
下载PDF
职称材料
题名
IEEE1149.1产生新标准
1
作者
dave bonnett
出处
《电子质量》
2002年第8期22-27,共6页
文摘
研制边界扫描原先是为了检验IC引线与PCB连接轨迹,现在它已被用于支持芯片调试、设备编程、混合信号测试和现场服务。
关键词
混合信号测试
PCB测试
在板闪速编程
芯片调试
边界扫描
新标准
IEEE1149.1
Keywords
IEEE1149.1
new standards
boundary-scan
分类号
TP334.7 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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作者
出处
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IEEE1149.1产生新标准
dave bonnett
《电子质量》
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