铁磷熔体的氧化还原态和导电性能

用电导率电池测量了含钠铁磷模拟放射性核废料 (HLW )熔体的电阻率 ,并分析了相应玻璃的M ssbauer谱 ,计算了铁离子的价态和氧化还原比 ,分析了温度、时间和氧化钠含量对熔体电阻率和玻璃氧化还原比的影响 .结果发现 :在Na2 O含量低的熔体中 ,升温和降温过程的电阻率的变化是不可逆的 ;随着Na2 O含量增加 ,不可逆性消失 ,熔体的电阻率随时间轻微下降 .同时发现 :Na2 O含量低的铁磷熔体的导电机理是电子性的 ,并用氧化还原比解释了其电阻率 -温度曲线的不可逆性 .铁磷模拟HLW熔体的电阻率类似于相近Na2 O含量的钠铁磷系统熔体的电阻率 .