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基板测试的未来
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作者 don hague 俞文野 《印制电路信息》 1999年第4期38-40,共3页
非接触电容传感器测试技术将取代移动探针。机械探针和短路橡胶测试技术,以满足高产量和高精度要求。
关键词 非接触 测试技术 基板测试 电容传感器 接触测试 半导体基 焊盘 探针技术 测试结果 短路
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