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Blu-Ray DVD芯片的测试挑战
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作者 donblair KeitaGunji 马朝 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2005年第1期i001-i002,共2页
本文介绍挑战高速和高精度混合信号测试需求和测试方案的蓝光DVD单芯片SOC架构，以及量产时缩短测试时间，减少测试成本的方法。
关键词 DVD芯片 挑战 量产 需求 混合信号测试 缩短 蓝光DVD 测试成本 单芯片 SOC架构
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