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XRD and XPS Analysis of TiO2 Thin Films Annealed in Different Environments
1
作者
Tamara Potlog
Petru Dumitriu
+1 位作者
Marius Dobromir
dumitru luca
《材料科学与工程（中英文B版）》
2014年第6期163-170,共8页
关键词
TIO2薄膜
XPS分析
XRD
环境
退火
X射线光电子能谱
X射线衍射
原子力显微镜
下载PDF
职称材料
题名
XRD and XPS Analysis of TiO2 Thin Films Annealed in Different Environments
1
作者
Tamara Potlog
Petru Dumitriu
Marius Dobromir
dumitru luca
机构
Department of Physics and Engineering
Faculty of Physics
出处
《材料科学与工程（中英文B版）》
2014年第6期163-170,共8页
关键词
TIO2薄膜
XPS分析
XRD
环境
退火
X射线光电子能谱
X射线衍射
原子力显微镜
Keywords
TiO2 thin films, doping effect, H2 annealing, XRD, XPS analysis.
分类号
O484 [理学—固体物理]
TS102.43 [轻工技术与工程—纺织工程]
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作者
出处
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1
XRD and XPS Analysis of TiO2 Thin Films Annealed in Different Environments
Tamara Potlog
Petru Dumitriu
Marius Dobromir
dumitru luca
《材料科学与工程（中英文B版）》
2014
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职称材料
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