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用电子束来测试印制电路板——电子束代替机械探针
1
作者
Dr.Auguste B
el-karet
齐兰俊
《印制电路信息》
1999年第4期35-36,共2页
用电子束基底(体)测试(electron beamsubstrate testing,简称EBST)系统,即聚焦的电子流代替针床和飞针测试仪上使用的机械探针。电子束的窄度可以测试到0.001”那么细小的图形,同时它的不接触特性又避免了对板子(基底)的机械或电损伤的...
用电子束基底(体)测试(electron beamsubstrate testing,简称EBST)系统,即聚焦的电子流代替针床和飞针测试仪上使用的机械探针。电子束的窄度可以测试到0.001”那么细小的图形,同时它的不接触特性又避免了对板子(基底)的机械或电损伤的可能性。这种革命性的E.T方法也提供了非常有效的速度优势。因从一个节点移到另一个节点传统的探针需要数毫秒的时间,而电子束探针只需数微秒的时间。该电子束,用来向网络提供电压和测量其它网络节点上的电压的电子束。
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关键词
电子束探针
测试节点
网络节点
板子
测试仪
测试矢量
机械
分辨率
电压
接触特性
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职称材料
题名
用电子束来测试印制电路板——电子束代替机械探针
1
作者
Dr.Auguste B
el-karet
齐兰俊
出处
《印制电路信息》
1999年第4期35-36,共2页
文摘
用电子束基底(体)测试(electron beamsubstrate testing,简称EBST)系统,即聚焦的电子流代替针床和飞针测试仪上使用的机械探针。电子束的窄度可以测试到0.001”那么细小的图形,同时它的不接触特性又避免了对板子(基底)的机械或电损伤的可能性。这种革命性的E.T方法也提供了非常有效的速度优势。因从一个节点移到另一个节点传统的探针需要数毫秒的时间,而电子束探针只需数微秒的时间。该电子束,用来向网络提供电压和测量其它网络节点上的电压的电子束。
关键词
电子束探针
测试节点
网络节点
板子
测试仪
测试矢量
机械
分辨率
电压
接触特性
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
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1
用电子束来测试印制电路板——电子束代替机械探针
Dr.Auguste B
el-karet
齐兰俊
《印制电路信息》
1999
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