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用电子束来测试印制电路板——电子束代替机械探针
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作者 Dr.Auguste B el-karet 齐兰俊 《印制电路信息》 1999年第4期35-36,共2页
用电子束基底(体)测试(electron beamsubstrate testing,简称EBST)系统,即聚焦的电子流代替针床和飞针测试仪上使用的机械探针。电子束的窄度可以测试到0.001”那么细小的图形,同时它的不接触特性又避免了对板子(基底)的机械或电损伤的... 用电子束基底(体)测试(electron beamsubstrate testing,简称EBST)系统,即聚焦的电子流代替针床和飞针测试仪上使用的机械探针。电子束的窄度可以测试到0.001”那么细小的图形,同时它的不接触特性又避免了对板子(基底)的机械或电损伤的可能性。这种革命性的E.T方法也提供了非常有效的速度优势。因从一个节点移到另一个节点传统的探针需要数毫秒的时间,而电子束探针只需数微秒的时间。该电子束,用来向网络提供电压和测量其它网络节点上的电压的电子束。 展开更多
关键词 电子束探针 测试节点 网络节点 板子 测试仪 测试矢量 机械 分辨率 电压 接触特性
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