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对满足RF应用要求的BGA封装进行测试
1
作者
Arun Chandrasekhar
erie beyne
+1 位作者
Walter De Raedt
Bart Nauwelaers
《今日电子》
2002年第9期29-30,共2页
一项BGA封装研究提供了一种可以满足芯片封装共同设计需要的精确模型和一种重要的工具
关键词
RF应用
BGA封装
测试
贴装效率
可靠性
球栅阵列
下载PDF
职称材料
题名
对满足RF应用要求的BGA封装进行测试
1
作者
Arun Chandrasekhar
erie beyne
Walter De Raedt
Bart Nauwelaers
机构
Alcatel Microelectronics公司
出处
《今日电子》
2002年第9期29-30,共2页
文摘
一项BGA封装研究提供了一种可以满足芯片封装共同设计需要的精确模型和一种重要的工具
关键词
RF应用
BGA封装
测试
贴装效率
可靠性
球栅阵列
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
对满足RF应用要求的BGA封装进行测试
Arun Chandrasekhar
erie beyne
Walter De Raedt
Bart Nauwelaers
《今日电子》
2002
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