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Using AFM to Determine the Porosity in Porous Silicon
被引量：
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作者
faten alfeel fowzi awad ibrahim alghoraibi fadi qamar
《材料科学与工程（中英文A版）》
2012年第9期579-583,共5页
关键词
原子力显微镜
多孔硅结构
孔隙率
孔隙度指数
电化学蚀刻
重力技术
电流密度
光学性质
下载PDF
职称材料
题名
Using AFM to Determine the Porosity in Porous Silicon
被引量：
1
1
作者
faten alfeel fowzi awad ibrahim alghoraibi fadi qamar
机构
Department of Physics
出处
《材料科学与工程（中英文A版）》
2012年第9期579-583,共5页
关键词
原子力显微镜
多孔硅结构
孔隙率
孔隙度指数
电化学蚀刻
重力技术
电流密度
光学性质
Keywords
Nano crystalline, porous silicon, atomic force microscopy, structural properties, electrochemical etching method.
分类号
TQ153.2 [化学工程—电化学工业]
TH742 [机械工程—光学工程]
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作者
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1
Using AFM to Determine the Porosity in Porous Silicon
faten alfeel fowzi awad ibrahim alghoraibi fadi qamar
《材料科学与工程（中英文A版）》
2012
1
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职称材料
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