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应用于倒装芯片的铜钉头凸点技术
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作者 Lee Levine Arun Chaudhuri frank stepniak 《集成电路应用》 2006年第8期41-44,共4页
铜钉头凸点技术可以为中低I/O密度的器件提供成本最低的倒装芯片封装。
关键词 倒装芯片封装 凸点 铜钉 I/O 器件
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