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光点与会聚测试系统的设备需求与配置
被引量:
3
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作者
杨晓伟
李晓华
+2 位作者
陈福朝
王琦龙
gerardvan veldhoven
《真空科学与技术》
CSCD
北大核心
2003年第1期53-56,共4页
光点测试和会聚测试是验证CPT电子枪偏转线圈性能的重要手段之一。本文提出基于合理的测试方法、有效适当的测试设备 ,建立最佳的测试系统。针对光点测试和会聚测试系统中的各种设备 ,介绍它们的应用原理及应用效果 。
关键词
CPT电子枪
偏转线圈
性能
光点测试
会聚测试
设备
测试系统
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职称材料
题名
光点与会聚测试系统的设备需求与配置
被引量:
3
1
作者
杨晓伟
李晓华
陈福朝
王琦龙
gerardvan veldhoven
机构
东南大学电子工程系
LG. Philips Display Netherlands B.V.
出处
《真空科学与技术》
CSCD
北大核心
2003年第1期53-56,共4页
文摘
光点测试和会聚测试是验证CPT电子枪偏转线圈性能的重要手段之一。本文提出基于合理的测试方法、有效适当的测试设备 ,建立最佳的测试系统。针对光点测试和会聚测试系统中的各种设备 ,介绍它们的应用原理及应用效果 。
关键词
CPT电子枪
偏转线圈
性能
光点测试
会聚测试
设备
测试系统
Keywords
Spot,Convergence,Configuration,Optimization design
分类号
TN141.32 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
光点与会聚测试系统的设备需求与配置
杨晓伟
李晓华
陈福朝
王琦龙
gerardvan veldhoven
《真空科学与技术》
CSCD
北大核心
2003
3
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