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解锁数据中心测试的新方法
1
作者
gobinath tamil vanan
《软件和集成电路》
2024年第11期2-6,共5页
目前,对数据中心的光器件执行直流偏置测试面临多重挑战,包括密度、精度、动态条件、非线性特性、灵敏度、高速数据传输需求和对真实场景的仿真等。应对这些挑战需要采用创新的方法和专业的设备,而源表模块(SMU)将发挥关键作用。为了满...
目前,对数据中心的光器件执行直流偏置测试面临多重挑战,包括密度、精度、动态条件、非线性特性、灵敏度、高速数据传输需求和对真实场景的仿真等。应对这些挑战需要采用创新的方法和专业的设备,而源表模块(SMU)将发挥关键作用。为了满足大众日益增长的对高速数据传输的需求,数据中心行业正经历着快速的变革,而在此进程中,光器件的重要性越发凸显。
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关键词
数据中心
真实场景
高速数据传输
光器件
非线性特性
直流偏置
动态条件
灵敏度
原文传递
题名
解锁数据中心测试的新方法
1
作者
gobinath tamil vanan
机构
是德科技
出处
《软件和集成电路》
2024年第11期2-6,共5页
文摘
目前,对数据中心的光器件执行直流偏置测试面临多重挑战,包括密度、精度、动态条件、非线性特性、灵敏度、高速数据传输需求和对真实场景的仿真等。应对这些挑战需要采用创新的方法和专业的设备,而源表模块(SMU)将发挥关键作用。为了满足大众日益增长的对高速数据传输的需求,数据中心行业正经历着快速的变革,而在此进程中,光器件的重要性越发凸显。
关键词
数据中心
真实场景
高速数据传输
光器件
非线性特性
直流偏置
动态条件
灵敏度
分类号
TP308 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
原文传递
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
解锁数据中心测试的新方法
gobinath tamil vanan
《软件和集成电路》
2024
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