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嵌入式存储器测试
1
作者
goh swee heng
Toh Ser Chye
Wong Kok Sun
《集成电路应用》
2008年第9期46-48,共3页
随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,...
随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST(存储器内建自测试)以及BISR(内建自修复)。
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关键词
嵌入式存储器
器件测试
存储器内建自测试
SOC系统
可测性设计
MBIST
制造技术
测试技术
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职称材料
题名
嵌入式存储器测试
1
作者
goh swee heng
Toh Ser Chye
Wong Kok Sun
机构
Staff Engineer Test R&D Test Development Product Engineering STATSChipPAC Ltd
出处
《集成电路应用》
2008年第9期46-48,共3页
文摘
随着存储器需求的增加以及制造技术的进步,嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比,嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构,并介绍各种DFT(可测性设计)测试技术,如SCAN〔扫描〕、MBIST(存储器内建自测试)以及BISR(内建自修复)。
关键词
嵌入式存储器
器件测试
存储器内建自测试
SOC系统
可测性设计
MBIST
制造技术
测试技术
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TM93 [电气工程—电力电子与电力传动]
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职称材料
题名
作者
出处
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1
嵌入式存储器测试
goh swee heng
Toh Ser Chye
Wong Kok Sun
《集成电路应用》
2008
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