期刊文献+
共找到8篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
基于能量最小化的CCGA焊点形态仿真研究
1
作者 张威 刘坤鹏 +3 位作者 王宏 杭春进 王尚 田艳红 《电子与封装》 2024年第8期51-57,共7页
为了确定某陶瓷柱栅阵列(CCGA)器件实现高焊接可靠性时的工艺参数组合范围,并研究焊点形态随不同参数变化的规律,以钎料润湿角、钎料体积以及焊柱偏移量作为关键变量因素,利用基于能量最小化原理的Surface Evolver软件,计算了不同因素... 为了确定某陶瓷柱栅阵列(CCGA)器件实现高焊接可靠性时的工艺参数组合范围,并研究焊点形态随不同参数变化的规律,以钎料润湿角、钎料体积以及焊柱偏移量作为关键变量因素,利用基于能量最小化原理的Surface Evolver软件,计算了不同因素水平组合下的实际焊点形态,并对参数化建模过程进行了详细介绍。通过对比形态结果与焊点可接收标准,寻找能够产生合格焊点的参量范围,为实际焊点微连接生产工艺提供合理的工艺指导。 展开更多
关键词 封装技术 Surface Evolver 焊点形态 CCGA
下载PDF
射频器件超细引线键合射频性能仿真 被引量:4
2
作者 王尚 马竟轩 +3 位作者 杨东升 徐佳慧 杭春进 田艳红 《焊接学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第10期1-7,I0001,共8页
随着雷达性能指标不断提高、体积不断压缩,作为其关键组成部分成之一的T/R(transmitter and receiver)组件也不断向小型化和高密度方向发展.采用超高密度引线键合技术能够实现高密度射频器件封装,但也会带来键合焊点可靠性下降、电路射... 随着雷达性能指标不断提高、体积不断压缩,作为其关键组成部分成之一的T/R(transmitter and receiver)组件也不断向小型化和高密度方向发展.采用超高密度引线键合技术能够实现高密度射频器件封装,但也会带来键合焊点可靠性下降、电路射频性能差等问题.针对键合线尺寸减小而引起射频性能下降的问题,采用HFSS软件探究了在0~20 GHz金带尺寸变化对电路射频性能的影响规律,并利用ANSYS Q3D和ADS软件对超细引线键合的电路进行阻抗匹配.结果表明,对于金丝和金带而言,插入微带双枝短截线匹配结构均能明显提高电路的射频性能.对于类型1结构,S21与S12的传输功率能达到-0.049 dB.对于类型2结构,S21与S12的传输功率能达到-7.245×10-5 dB,说明类型2结构下的信号传输几乎无损耗.该结果为超细引线键合技术在射频电路中的应用提供了理论指导. 展开更多
关键词 超细引线键合 射频性能 阻抗匹配
下载PDF
功率器件封装用纳米浆料制备及其烧结性能研究进展
3
作者 杨帆 杭春进 田艳红 《电子与封装》 2021年第3期8-17,共10页
随着SiC、GaN等第三代半导体在大功率器件上的应用,功率器件的工作温度可达到300℃,传统Sn基无铅钎料因为熔点低及钎焊温度高等原因无法满足要求。纳米浆料因其可以实现低温烧结、高温服役的特性吸引了国内外研究者的青睐。从纳米颗粒... 随着SiC、GaN等第三代半导体在大功率器件上的应用,功率器件的工作温度可达到300℃,传统Sn基无铅钎料因为熔点低及钎焊温度高等原因无法满足要求。纳米浆料因其可以实现低温烧结、高温服役的特性吸引了国内外研究者的青睐。从纳米颗粒的合成、纳米浆料的制备、烧结性能以及可靠性等方面综述国内外纳米浆料的研究进展,同时对纳米浆料研究中存在的问题提出一些建议。 展开更多
关键词 功率器件封装 第三代半导体 纳米浆料 低温烧结
下载PDF
纳米铜银核壳焊膏脉冲电流快速烧结连接铜基板研究 被引量:5
4
作者 黄圆 杭春进 +2 位作者 田艳红 王晨曦 张贺 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第24期51-56,共6页
一种温和的两步液相法制备的纳米铜银核壳颗粒,实现了均径为6.9 nm的小尺寸纳米银颗粒包覆在均径为57.5 nm的纳米铜颗粒的表面,采用扫描电子显微镜、透射电子显微镜和高分辨率射像对其结构进行了表征。采用模板印刷法制备铜基板/纳米铜... 一种温和的两步液相法制备的纳米铜银核壳颗粒,实现了均径为6.9 nm的小尺寸纳米银颗粒包覆在均径为57.5 nm的纳米铜颗粒的表面,采用扫描电子显微镜、透射电子显微镜和高分辨率射像对其结构进行了表征。采用模板印刷法制备铜基板/纳米铜银核壳焊膏/铜基板三明治结构,研究了脉冲电流对三明治结构的剪切强度大小和微结构特征的影响。试验结果表明脉冲电流烧结纳米铜银核壳焊膏连接Cu-Cu基板可在短时间(小于200 ms)内快速获得高致密度且实现冶金连接的高强度焊点结构。三明治结构的剪切强度随脉冲电流的增加而增大,在1.0 kA的脉冲电流下,可获得高达80 MPa的剪切强度。经研究脉冲电流烧结后的纳米铜银核壳焊膏内部显微组织结构,提出双脉冲电流下纳米铜银核壳焊膏烧结连接的机理。 展开更多
关键词 纳米铜银核壳颗粒 纳米焊膏 脉冲电流烧结 快速连接 功率器件
原文传递
射频器件超细引线键合工艺及性能研究 被引量:3
5
作者 王尚 王凯枫 +4 位作者 张贺 徐佳慧 杨东升 杭春进 田艳红 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第22期201-208,共8页
作为有源相控阵雷达的关键组成部分,T/R(Transmitter and receiver)组件的尺寸与性能决定着装备的重量和功能。引线键合是T/R组件中常用的互连技术之一,随着组件集成度的提高势必也要开发相应的高密度引线键合技术,这使得键合线的尺寸... 作为有源相控阵雷达的关键组成部分,T/R(Transmitter and receiver)组件的尺寸与性能决定着装备的重量和功能。引线键合是T/R组件中常用的互连技术之一,随着组件集成度的提高势必也要开发相应的高密度引线键合技术,这使得键合线的尺寸越来越小,而超细的引线会使焊点力学性能降低,造成可靠性下降等问题。采用超声热压楔形键合的方法实现了的超细金丝与金焊盘的连接,并对工艺进行优化。结果表明,随键合压力、键合时间和超声功率的增大,键合后引线形变量逐渐增大,而键合后金丝的拉力先增加后减小,且工艺参数对金带形变量的影响小于金丝;由于第二焊点作用力过大会导致引线形变量较大、最大拉力小于第一焊点,需增加题焊点数量;最后,通过正交试验方法获得了金线和金带的最佳键合工艺参数,实现了超细尺寸引线的键合,对T/R组件的小型化具有重要意义。 展开更多
关键词 超细引线键合 超声热压楔形键合 工艺优化 可靠性
原文传递
极端热冲击和电流密度耦合Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点组织演变 被引量:3
6
作者 李胜利 任春雄 +4 位作者 杭春进 田艳红 王晨曦 崔宁 蒋倩 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第2期291-299,共9页
深空探测环境中电子设备焊点面临极端温度和电场耦合的严峻考验。在−196~150℃极端温度热冲击和1.5×10^(4) A/cm^(2)电流密度的耦合载荷下,对Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点的微观组织演变规律和电流拥挤效应进行分析,描述焊点微观组织演变及... 深空探测环境中电子设备焊点面临极端温度和电场耦合的严峻考验。在−196~150℃极端温度热冲击和1.5×10^(4) A/cm^(2)电流密度的耦合载荷下,对Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点的微观组织演变规律和电流拥挤效应进行分析,描述焊点微观组织演变及电阻变化之间的联系。试验结果表明,热冲击前期,阳极处IMC厚度呈抛物线规律增加,其成分为Cu_(6)Sn_(5);阴极处IMC厚度减小且成分也为Cu_(6)Sn_(5)。随着热冲击次数的增加,电子风力和应力梯度的方向一致的焊点阳极处IMC厚度持续增厚,阴极处界面IMC不断消融;当二者方向相反时,焊点阳极处界面IMC厚度开始减薄,阴极处界面IMC厚度明显增加,焊点电阻有所增加,且在焊点的电流输入端还出现了电流集中效应。此外,双层IMC之间贯穿焊点的疲劳裂纹导致了焊点失效,焊点的电阻值达到无穷大。 展开更多
关键词 Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点 极端温度 热冲击 电流 金属间化合物
原文传递
极端温度环境Sn基焊点本构方程的研究进展 被引量:1
7
作者 李胜利 牛飘 +3 位作者 杭春进 田艳红 崔宁 蒋倩 《机械工程学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2022年第2期236-245,共10页
焊点在深空探测器的电子系统中承担机械支撑、电气连接和信号通道的作用,电子系统的失效也多由互连焊点的失效引起,这与钎料在不同温度载荷下力学行为和微观组织的变化有着重要的联系。目前焊点主要以Sn基钎料为主,且在−55~150℃温度范... 焊点在深空探测器的电子系统中承担机械支撑、电气连接和信号通道的作用,电子系统的失效也多由互连焊点的失效引起,这与钎料在不同温度载荷下力学行为和微观组织的变化有着重要的联系。目前焊点主要以Sn基钎料为主,且在−55~150℃温度范围内根据其力学性能构建黏塑性方程,如Anand、Garofalo-Arrheninus、Norton、Wiese模型等。但对小于−55℃温度环境下的钎料本构方程研究较少。通过对−55~150℃温度范围内现有的力学本构模型进行了综述,阐述在不同温度下力学性能和微观组织对焊点可靠性的影响,总结了目前面临的问题和挑战,最后对小于−55℃下Sn基钎料和焊点的力学本构模型研究进行了初步探索及展望。 展开更多
关键词 Sn基焊点 力学本构方程 力学行为 深空探测
原文传递
Recent advances in metal nanowire-based transparent conductive films:Fabrication and applications 被引量:1
8
作者 TIAN YanHong Zhang He +4 位作者 hang chunjin WANG Shang FENG JiaYun DING Su HUANG YiLong 《Science Foundation in China》 CAS 2020年第2期85-103,共19页
Transparent conductive films(TCFs)have attracted intense attention in many electronic products,such as flexible devices,organic light-emitting diodes and stretchable electronics.Indium tin oxide(ITO)is the most common... Transparent conductive films(TCFs)have attracted intense attention in many electronic products,such as flexible devices,organic light-emitting diodes and stretchable electronics.Indium tin oxide(ITO)is the most commonly used transparent conductive material.However,the instinct brittleness,low reserves and high manufacturing costs associated with ITO prompted searching for a suitable alternative.The alternatives are expected to have a comparable optoelectrical performance with ITO,excellent flexibility and low cost.At present,metal nanowires(NWs)are the only alternative to ITO that satisfy these requirements concurrently.Nevertheless,practical applications of metal NWs are still limited by several drawbacks,including the poor quality of synthesized NWs,the loose wire to wire junctions,and the low resistance against oxidation or corrosion.This review summarizes the recent developments of TCFs to address these challenging issues and highlights some most important fabrication methods to improve the conductivity and stability of TCFs.At last,the applications of TCFs in a variety of devices,such as transparent heaters,organic light-emitting diodes and electrochromic devices,are also discussed. 展开更多
关键词 TRANSPARENT CORROSION CONDUCTIVE
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部