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改进缺陷,套刻和聚焦性能的第五世代浸没式曝光系统(英文)
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作者 Jan Mulkens Bob Streefkerk +4 位作者 hans jasper Jos de Klerk Fred de Jong Leon Levasier Martijn Leenders 《电子工业专用设备》 2008年第3期13-19,共7页
论述了第五世代双扫描平台浸液式扫描曝光机的性能和进展。表明了在高速扫描状态下有生产价值的套刻和聚焦性能的实现。浸液式设备更多的关键部分与缺陷有关,而且该机的改进是通过有生产价值的缺陷水平方面来体现的。为了保持这种缺陷... 论述了第五世代双扫描平台浸液式扫描曝光机的性能和进展。表明了在高速扫描状态下有生产价值的套刻和聚焦性能的实现。浸液式设备更多的关键部分与缺陷有关,而且该机的改进是通过有生产价值的缺陷水平方面来体现的。为了保持这种缺陷水平的改进效果,需要在圆片应用中进行专门稳定的测量。特加是边缘空泡除去(EBR)设计和圆片斜面良流线性是很重要的。 展开更多
关键词 浸液式扫描曝光机 套刻和聚焦性能 缺陷改进 污染粒子控制
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