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改进缺陷,套刻和聚焦性能的第五世代浸没式曝光系统(英文)
1
作者
Jan Mulkens
Bob Streefkerk
+4 位作者
hans jasper
Jos de Klerk
Fred de Jong
Leon Levasier
Martijn Leenders
《电子工业专用设备》
2008年第3期13-19,共7页
论述了第五世代双扫描平台浸液式扫描曝光机的性能和进展。表明了在高速扫描状态下有生产价值的套刻和聚焦性能的实现。浸液式设备更多的关键部分与缺陷有关,而且该机的改进是通过有生产价值的缺陷水平方面来体现的。为了保持这种缺陷...
论述了第五世代双扫描平台浸液式扫描曝光机的性能和进展。表明了在高速扫描状态下有生产价值的套刻和聚焦性能的实现。浸液式设备更多的关键部分与缺陷有关,而且该机的改进是通过有生产价值的缺陷水平方面来体现的。为了保持这种缺陷水平的改进效果,需要在圆片应用中进行专门稳定的测量。特加是边缘空泡除去(EBR)设计和圆片斜面良流线性是很重要的。
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关键词
浸液式扫描曝光机
套刻和聚焦性能
缺陷改进
污染粒子控制
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职称材料
题名
改进缺陷,套刻和聚焦性能的第五世代浸没式曝光系统(英文)
1
作者
Jan Mulkens
Bob Streefkerk
hans jasper
Jos de Klerk
Fred de Jong
Leon Levasier
Martijn Leenders
机构
ASML Netherlands B.V.De Run
出处
《电子工业专用设备》
2008年第3期13-19,共7页
文摘
论述了第五世代双扫描平台浸液式扫描曝光机的性能和进展。表明了在高速扫描状态下有生产价值的套刻和聚焦性能的实现。浸液式设备更多的关键部分与缺陷有关,而且该机的改进是通过有生产价值的缺陷水平方面来体现的。为了保持这种缺陷水平的改进效果,需要在圆片应用中进行专门稳定的测量。特加是边缘空泡除去(EBR)设计和圆片斜面良流线性是很重要的。
关键词
浸液式扫描曝光机
套刻和聚焦性能
缺陷改进
污染粒子控制
Keywords
Immersion scanning exposure tools
Overlay and focus performance
Defects improvements
Particle contamination controlling.
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
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1
改进缺陷,套刻和聚焦性能的第五世代浸没式曝光系统(英文)
Jan Mulkens
Bob Streefkerk
hans jasper
Jos de Klerk
Fred de Jong
Leon Levasier
Martijn Leenders
《电子工业专用设备》
2008
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