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测量非辐射能从荧光分子到介电界面的传输
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作者 舒启清 hans.,pk 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第1期33-38,共6页
我们测量了被Ａｌ２Ｏ３隔离层与Ａｇ，Ｉｎ２Ｏ３和ＳｎＯ２表面分隔开的噻吩甲酰三氟丙酮铕〔ｅｕ－ｒｏｐｉｕｍ（Ⅲ）ｔｈｅｎｏｙｔｒｉｆｌｕｏｒｏａｃｅｔｏｎａｔｅ，ＥｕＴＴＡ〕分子的荧光强度．实验结果显示当隔离层厚度为... 我们测量了被Ａｌ２Ｏ３隔离层与Ａｇ，Ｉｎ２Ｏ３和ＳｎＯ２表面分隔开的噻吩甲酰三氟丙酮铕〔ｅｕ－ｒｏｐｉｕｍ（Ⅲ）ｔｈｅｎｏｙｔｒｉｆｌｕｏｒｏａｃｅｔｏｎａｔｅ，ＥｕＴＴＡ〕分子的荧光强度．实验结果显示当隔离层厚度为１～１０ｎｍ时，由于非辐射能从发射中心Ｅｕ３＋离子传输入介电界面，荧光强度随隔离层厚度减少按指数式减弱． 展开更多
关键词 荧光 非辐射能传输 介电界面 分子激发 铕离子
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