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100 keV质子辐照InGaAs单结太阳电池性能退化机理研究 被引量:1
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作者 玛丽娅·黑尼 陈馨芸 +4 位作者 雷琪琪 艾尔肯·阿不都瓦衣提 李豫东 郭旗 he chengfa 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2023年第5期146-151,共6页
为研究太阳电池光电参数由低能质子辐照产生的辐射损伤机制,对In_(0.53)Ga_(0.47)As单结太阳电池开展100 keV质子辐照及退火试验研究,分析太阳电池电参数和光谱响应在辐照及退火前后的变化规律,结合SRIM仿真计算结果对辐照引起的位移损... 为研究太阳电池光电参数由低能质子辐照产生的辐射损伤机制,对In_(0.53)Ga_(0.47)As单结太阳电池开展100 keV质子辐照及退火试验研究,分析太阳电池电参数和光谱响应在辐照及退火前后的变化规律,结合SRIM仿真计算结果对辐照引起的位移损伤进行讨论。结果表明,当质子辐照累积注量为5×10^(12)p/cm^(2)时,In_(0.53)Ga_(0.47)As单结太阳电池的短路电流、开路电压和最大输出功率分别衰减到其初始值的88.8%、88.3%、72.3%;太阳电池光谱响应在短波区的衰减比长波区更严重。SRIM仿真结果表明,上述结果是由于100 keV的质子能量沉积在In_(0.53)Ga_(0.47)As单结太阳电池发射区和基区顶部而产生位移损伤缺陷导致的。对辐照后的太阳电池样品进行150℃退火处理,太阳电池电学参数因辐射感生缺陷的湮灭而产生了不同程度的恢复。 展开更多
关键词 太阳电池效率 质子辐照 辐射损伤 量子效率
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浮栅晶体管不同射线剂量响应特性研究
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作者 任李贤 孙静 +2 位作者 何承发 荀明珠 郭旗 《微电子学》 CAS 北大核心 2023年第6期981-987,共7页
针对浮栅晶体管在不同射线下的响应差异问题,进行了^(60)Co-γ射线、25 MeV质子和1 MeV电子的辐照试验,研究了不同射线下浮栅晶体管的剂量响应差异。采用蒙特卡罗方法对器件灵敏区的吸收剂量进行了修正。通过中带电压分离出界面陷阱电荷... 针对浮栅晶体管在不同射线下的响应差异问题,进行了^(60)Co-γ射线、25 MeV质子和1 MeV电子的辐照试验,研究了不同射线下浮栅晶体管的剂量响应差异。采用蒙特卡罗方法对器件灵敏区的吸收剂量进行了修正。通过中带电压分离出界面陷阱电荷,分析了不同射线下电离辐射响应差异的微观机理。研究结果表明,在等效剂量下,质子辐照后电离响应特性与^(60)Co-γ射线较为接近,电子辐照后响应程度略低于质子和^(60)Co-γ射线。对器件灵敏区的吸收剂量进行修正后,三种射线下的剂量响应特性差异降低。质子辐照后界面陷阱电荷数量多于^(60)Co-γ射线和电子射线。试验研究为浮栅晶体管辐照传感器的研制提供参考。 展开更多
关键词 浮栅晶体管 总剂量效应 陷阱电荷分离 剂量响应差异
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浮栅晶体管的辐照响应及退火特性研究
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作者 任李贤 孙静 +1 位作者 何承发 荀明珠 《固体电子学研究与进展》 CAS 北大核心 2023年第3期281-286,共6页
对浮栅晶体管进行了^(60)Co-γ射线总剂量辐照试验,研究了浮栅晶体管的电离辐射响应特性,通过对晶体管在辐照后的常温和高温100℃下的退火,分析了电离辐射环境下浮栅晶体管的陷阱电荷的产生及变化过程,监测了浮栅电荷存储能力。结果表明... 对浮栅晶体管进行了^(60)Co-γ射线总剂量辐照试验,研究了浮栅晶体管的电离辐射响应特性,通过对晶体管在辐照后的常温和高温100℃下的退火,分析了电离辐射环境下浮栅晶体管的陷阱电荷的产生及变化过程,监测了浮栅电荷存储能力。结果表明,辐照导致浮栅晶体管中多晶硅浮动栅极存储电荷的丢失,界面处感生的陷阱电荷数量远少于氧化物陷阱电荷及浮栅中电荷丢失量,退火效应可恢复浮栅受辐射影响的存储能力。试验数据为浮栅晶体管在电离辐射环境的测试及应用提供参考。 展开更多
关键词 浮栅晶体管 总剂量效应 陷阱电荷分离 辐照响应分析
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变温辐照对双极电压比较器LM2903在不同偏置状态下的单粒子瞬态影响 被引量:2
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作者 姚帅 陆妩 +8 位作者 于新 李小龙 王信 刘默寒 孙静 常耀东 席善学 何承发 郭旗 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2019年第6期1122-1126,共5页
利用变温辐照方法模拟了低剂量率辐照,研究了双极电压比较器LM2903的电离总剂量(TID)-单粒子瞬态(SET)的协同效应。结果表明,高电平工作状态偏置时,TID对LM2903的SET具有抑制作用;低电平工作状态偏置时,TID对LM2903的SET具有促进作用。... 利用变温辐照方法模拟了低剂量率辐照,研究了双极电压比较器LM2903的电离总剂量(TID)-单粒子瞬态(SET)的协同效应。结果表明,高电平工作状态偏置时,TID对LM2903的SET具有抑制作用;低电平工作状态偏置时,TID对LM2903的SET具有促进作用。电离辐照诱发的界面态缺陷电荷是TID-SET协同效应产生的根本原因,电压比较器的输出级结构导致了偏置状态对TID-SET协同效应的不同影响。 展开更多
关键词 变温辐照方法 双极电压比较器 电离总剂量 单粒子瞬态 偏置状态 协同效应
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超深亚微米SOI总剂量效应泄漏电流模型 被引量:2
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作者 席善学 郑齐文 +5 位作者 崔江维 魏莹 姚帅 何承发 郭旗 陆妩 《太赫兹科学与电子信息学报》 北大核心 2019年第6期1107-1111,共5页
总剂量辐射效应会导致绝缘体上硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SOIMOSFET)器件的阈值电压漂移、泄漏电流增大等退化特性。浅沟槽隔离(STI)漏电是器件退化的主要因素,会形成漏极到源极的寄生晶体管。针对130nm部分耗尽(PD)SOINMOSFET器... 总剂量辐射效应会导致绝缘体上硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SOIMOSFET)器件的阈值电压漂移、泄漏电流增大等退化特性。浅沟槽隔离(STI)漏电是器件退化的主要因素,会形成漏极到源极的寄生晶体管。针对130nm部分耗尽(PD)SOINMOSFET器件的总剂量辐射退化特性,建立了一个包含总剂量辐射效应的通用模拟电路仿真器(SPICE)模型。在BSIMSOI标准工艺集约模型的基础上,增加了STI寄生晶体管泄漏电流模型,并考虑了辐射陷阱电荷引起寄生晶体管的等效栅宽和栅氧厚度的变化。通过与不同漏压下、不同宽长比的器件退化特性的实验结果对比,该模型能够准确反映器件辐射前后的漏电流特性变化,为器件的抗辐射设计提供参考依据。 展开更多
关键词 总辐照剂量 绝缘体上硅 模型 浅沟槽隔离
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不同屏蔽材料对空间100 MeV质子防护效果分析 被引量:2
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作者 荀明珠 何承发 郑玉展 《载人航天》 CSCD 北大核心 2018年第6期740-744,共5页
为了研究地球空间辐射环境中高能质子的屏蔽问题,使用基于蒙特卡罗方法的Geant4软件模拟了100 MeV质子入射相同面密度的Al、PE、水三种屏蔽材料,通过分析射线穿过屏蔽材料后在水模体中的深度剂量分布、屏蔽材料内的能量沉积、屏蔽材料... 为了研究地球空间辐射环境中高能质子的屏蔽问题,使用基于蒙特卡罗方法的Geant4软件模拟了100 MeV质子入射相同面密度的Al、PE、水三种屏蔽材料,通过分析射线穿过屏蔽材料后在水模体中的深度剂量分布、屏蔽材料内的能量沉积、屏蔽材料产生的次级粒子能谱,对不同面密度下三种材料的质子屏蔽效果进行了对比分析。结果表明:Al、PE、水三种屏蔽材料中,使用PE屏蔽材料比Al屏蔽材料节省27.29%的重量即可实现对100 MeV质子的有效屏蔽,水屏蔽材料比Al材料节省22.46%的屏蔽材料重量;面密度为6.48 g/cm^2PE材料对100 MeV质子的屏蔽能力比同等面密度下Al材料增加59.23%;等效Al厚度为27 mm时,PE屏蔽比Al屏蔽能力增加达到最大值82.96%。 展开更多
关键词 GEANT4 次级粒子 屏蔽材料 100MeV质子
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空间重粒子入射屏蔽材料的蒙特卡罗模拟 被引量:1
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作者 荀明珠 何承发 郑玉展 《载人航天》 CSCD 北大核心 2019年第2期159-163,共5页
针对空间辐射环境中银河宇宙射线重离子的屏蔽防护问题,使用基于蒙特卡罗方法的Geant4软件模拟330 MeV/n ^(12)C粒子入射铝、聚乙烯、水、液态氢4种屏蔽材料,分析了^(12)C粒子在4种屏蔽材料内的深度剂量分布;在Geant4中建立MIRD人体模型... 针对空间辐射环境中银河宇宙射线重离子的屏蔽防护问题,使用基于蒙特卡罗方法的Geant4软件模拟330 MeV/n ^(12)C粒子入射铝、聚乙烯、水、液态氢4种屏蔽材料,分析了^(12)C粒子在4种屏蔽材料内的深度剂量分布;在Geant4中建立MIRD人体模型,分析了^(12)C粒子入射4种屏蔽材料后在人体睾丸器官内的吸收剂量;对每种次级粒子在器官内的吸收剂量进行比对,分析了^(12)C粒子入射PE材料产生的次级质子和次级中子能谱。结果表明:330 MeV/n ^(12)C粒子在液态氢中的入射深度为9.66 g/cm^2,在Al中的入射深度为液态氢中入射深度的2.63倍,^(12)C粒子入射5 g/cm^2Al屏蔽材料后在器官内的吸收剂量为2.98×10^(-14 ) Gy/Ion,在液态氢屏蔽后器官内的吸收剂量为2.29×10^(-14 ) Gy/Ion,与Al屏蔽相比吸收剂量降低23.2%。 展开更多
关键词 GEANT4 屏蔽材料 MIRD 人体模型 深度剂量分布
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抗辐射封装加固:电子辐射屏蔽设计 被引量:4
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作者 赵鹤然 王吉强 +3 位作者 陈明祥 杨涛 何承发 杜昊 《微处理机》 2021年第5期1-4,共4页
空间环境辐射对宇航级器件产生总剂量效应会导致器件性能参数随着剂量累积而逐步衰退,主流的抗辐射加固途径主要是芯片设计和工艺加固,存在设计周期长、流片及验证成本高等问题。针对此问题,为降低具有小批量、多批次特点的宇航级器件... 空间环境辐射对宇航级器件产生总剂量效应会导致器件性能参数随着剂量累积而逐步衰退,主流的抗辐射加固途径主要是芯片设计和工艺加固,存在设计周期长、流片及验证成本高等问题。针对此问题,为降低具有小批量、多批次特点的宇航级器件的研发门槛,提出一种用于封装抗辐射加固的电子辐射屏蔽设计。设计通过分析GEO轨道的辐射环境,基于对高能电子与屏蔽材料的作用机制,针对电子辐射总剂量效应,采用Al/Ta纳米复合材料结构来屏蔽空间环境中的高能电子辐射及其二次辐射,解决传统封装加固中遇到的“越挡越乱”问题。经实验,0.4 mm以上复合涂层屏蔽效率超过90%并通过了可靠性测试。 展开更多
关键词 总剂量效应 空间辐射 封装加固 纳米材料 屏蔽
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不同温度辐照下栅控双极晶体管的总剂量效应参数退化研究
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作者 相传峰 李小龙 +11 位作者 陆妩 王信 刘默寒 于新 蔡娇 张瑞勤 何承发 荀明珠 刘海涛 张巍 于刚 郭旗 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第12期2183-2190,共8页
本文选用特殊测试结构的栅控横向PNP(gated lateral PNP,GLPNP)双极晶体管为研究对象,在不同辐照温度下,得到了温度和剂量对GLPNP双极晶体管辐射损伤的响应机制。试验结果表明,温度和剂量是影响界面陷阱电荷生成和退火动态平衡的关键因... 本文选用特殊测试结构的栅控横向PNP(gated lateral PNP,GLPNP)双极晶体管为研究对象,在不同辐照温度下,得到了温度和剂量对GLPNP双极晶体管辐射损伤的响应机制。试验结果表明,温度和剂量是影响界面陷阱电荷生成和退火动态平衡的关键因素。在低剂量阶段,高温辐照会导致GLPNP双极晶体管辐射损伤加快,在高剂量阶段,适当降低温度会促进界面陷阱电荷的生长。 展开更多
关键词 温度效应 总剂量效应 界面陷阱电荷 GLPNP双极晶体管
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A CaS:Ce,Sm-based dosimeter for online dosimetry measurement 被引量:3
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作者 SUN Yurun CheN Zhaoyang +2 位作者 FAN Yanwei YAN Shiyou he chengfa 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 2011年第2期84-88,共5页
A film dosimeter based on optically stimulated luminescence (OSL) material of CaS:Ce,Sm was developed for online irradiation dosimetry measurement.The stimulation is provided by a laser with a wavelength of 980 nm,and... A film dosimeter based on optically stimulated luminescence (OSL) material of CaS:Ce,Sm was developed for online irradiation dosimetry measurement.The stimulation is provided by a laser with a wavelength of 980 nm,and the OSL luminescenceis collected by a photodiode.Using 60Co γ-rays,we investigated the dosimetry characteristic of the dosimeter at different dose rates and total doses.The real-time detection results showed that the OSL signals versus total ionizing dose exhibited a good linearity in a dose range of 0.1-185 Gy. 展开更多
关键词 剂量测量 物质基础 剂量计 CAS 中国科学院 光电二极管
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高温环境下PMOS剂量计的剂量响应研究
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作者 马函 孙静 +1 位作者 何承发 荀明珠 《原子能科学技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2021年第12期2175-2182,共8页
通过室温和高温条件下的辐照试验,研究了100 nm和400 nm栅氧厚度PMOS剂量计(RADFETs)在高温下的辐照响应。实验剂量率为3 rad(Si)/s和0.098 rad(Si)/s,辐照总剂量达80 krad(Si)。采用中带电压法进行氧化物陷阱电荷和界面态陷阱电荷的分... 通过室温和高温条件下的辐照试验,研究了100 nm和400 nm栅氧厚度PMOS剂量计(RADFETs)在高温下的辐照响应。实验剂量率为3 rad(Si)/s和0.098 rad(Si)/s,辐照总剂量达80 krad(Si)。采用中带电压法进行氧化物陷阱电荷和界面态陷阱电荷的分离,对高温下辐照响应的微观机理进行了分析。氧化物陷阱电荷的退火作用是导致非线性响应的主要原因。不同氧化层厚度的氧化物陷阱电荷密度差异很大,高温下100 nm和400 nm RADFETs的界面态陷阱电荷密度差异较小。最后讨论了高温下不同栅氧厚度RADFETs的适用性,为高温环境下RADFETs的应用提供了参考。 展开更多
关键词 高温环境 RADFETS 辐照响应
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PMOS剂量计对^(60)Co和10 keV光子的剂量响应差异
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作者 马函 何承发 +1 位作者 孙静 荀明珠 《太赫兹科学与电子信息学报》 2022年第6期557-564,共8页
针对P型金属氧化物半导体(PMOS)剂量计对^(60)Co和10 keV光子的剂量响应差异问题,本文对400 nm-PMOS剂量计进行了不同栅压条件下^(60)Coγ射线和10 keVX射线的对比辐照试验,并通过中带电压法和电荷泵法分离氧化物陷阱电荷和界面态陷阱... 针对P型金属氧化物半导体(PMOS)剂量计对^(60)Co和10 keV光子的剂量响应差异问题,本文对400 nm-PMOS剂量计进行了不同栅压条件下^(60)Coγ射线和10 keVX射线的对比辐照试验,并通过中带电压法和电荷泵法分离氧化物陷阱电荷和界面态陷阱电荷的影响,发现PMOS对10 keV光子的响应明显低于^(60)Coγ射线,其中主要的差异来自氧化物陷阱电荷,退火的差异表示不同射线辐照下的陷阱电荷竞争机制不同,不同的分析方法也带来一定差异。通过使用剂量因子和电荷产额修正,减小了剂量响应的差异,同时对响应的微观物理机制进行了解释。通过有效剂量修正和电荷产额修正可以很大程度上减小不同能量的剂量响应差异,为PMOS的低能光子辐射环境应用提供了参考。 展开更多
关键词 P型金属氧化物半导体(PMOS) 剂量响应 陷阱电荷分离 有效剂量
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利用水泥窑处置草甘膦废液的技术研究与探索
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作者 何承发 轩红钟 +1 位作者 张长乐 杨旺生 《水泥工程》 CAS 2018年第5期24-27,共4页
草甘膦废液为草甘膦除草剂生产过程中产生的废母液,属于《国家危险废物名录》中的HW04农药废物类别危险废物。本文综述了利用水泥窑处置化工废液的技术方案、试验过程以及对水泥窑和环境的影响情况。结果表明,废液从分解炉锥部进入能连... 草甘膦废液为草甘膦除草剂生产过程中产生的废母液,属于《国家危险废物名录》中的HW04农药废物类别危险废物。本文综述了利用水泥窑处置化工废液的技术方案、试验过程以及对水泥窑和环境的影响情况。结果表明,废液从分解炉锥部进入能连续处置运行,对水泥熟料烧成系统的影响可控,水泥熟料质量变化较小。 展开更多
关键词 水泥窑 危险废物 草甘膦 废液 处置
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Influence of channel length and layout on TID for 0.18 μm NMOS transistors
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作者 WU Xue LU Wu +6 位作者 WANG Xin GUO Qi he chengfa LI Yudong XI Shanbin SUN Jing WEN Lin 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 2013年第6期17-22,共6页
Different channel lengths and layouts on 0.18μm NMOS transistors are designed for investigating the dependence of short channel effects(SCEs)on the width of shallow trench isolation(STI)devices and designing in radia... Different channel lengths and layouts on 0.18μm NMOS transistors are designed for investigating the dependence of short channel effects(SCEs)on the width of shallow trench isolation(STI)devices and designing in radiation hardness.Results show that,prior to irradiation,the devices exhibited near–ideal I–V characteristics,with no significant SCEs.Following irradiation,no noticeable shift of threshold voltage is observed,radiation–induced edge–leakage current,however,exhibits significant sensitivity on TID.Moreover,radiation–enhanced drain induced barrier lowering(DIBL)and channel length modulation(CLM)effects are observed on short–channel NMOS transistors.Comparing to stripe–gate layout,enclosed–gate layout has excellent radiation tolerance. 展开更多
关键词 NMOS晶体管 沟道长度 TID 短沟道效应 辐射诱发 通道长度 沟槽隔离 特性曲线
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基于SOI结构的辐照传感器的辐照响应特性研究
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作者 孙静 郭旗 +5 位作者 郑齐文 崔江维 何承发 刘海涛 刘许强 刘梦新 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2019年第12期43-48,共6页
绝缘体上硅埋氧层(Silicon-On-Insulator Buried Oxide,SOI BOX)P型金属氧化物半导体场效应晶体管(Positive channel Metal Oxide Semiconductor,PMOS)是用于新型高灵敏度辐射探测仪的一种关键器件。通过试验研究了SOI BOX PMOS的辐照... 绝缘体上硅埋氧层(Silicon-On-Insulator Buried Oxide,SOI BOX)P型金属氧化物半导体场效应晶体管(Positive channel Metal Oxide Semiconductor,PMOS)是用于新型高灵敏度辐射探测仪的一种关键器件。通过试验研究了SOI BOX PMOS的辐照响应特性,包括辐照偏置对SOI BOX PMOS的辐射响应灵敏度的影响、不同辐射剂量率环境下的SOI BOX PMOS的灵敏度响应差异、辐照后的SOI BOX PMOS的退火特性及其对辐射响应敏感度影响,以及SOI BOX PMOS沟道宽长比与其灵敏度的关系等,并对试验结果进行了必要的理论分析。实验结果表明:正偏置辐照的器件对电荷的收集响应灵敏度明显高于零偏置辐照的器件;阈值电压的辐照变化几乎不受退火效应影响;相比于宽沟道器件,窄沟道器件的阈值电压漂移更为明显。实验研究为新型辐射剂量探测仪的研制打下了基础。 展开更多
关键词 辐照传感器 基于绝缘体上硅P型金属氧化物半导体场效应晶体管 剂量计
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质子辐照对RADFETs的γ辐照剂量响应的影响研究
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作者 马函 孙静 +1 位作者 何承发 荀明珠 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2022年第1期37-43,共7页
针对辐射敏感晶体管(Radiation Sensitive Field-Effect Transistors,RADFETs)在地面标定使用(60)^Coγ射线源而实际空间应用时存在的质子电子辐射环境的差异性问题,进行了10 MeV质子和(60)^Coγ射线的对比辐照与协和辐照试验。采用中... 针对辐射敏感晶体管(Radiation Sensitive Field-Effect Transistors,RADFETs)在地面标定使用(60)^Coγ射线源而实际空间应用时存在的质子电子辐射环境的差异性问题,进行了10 MeV质子和(60)^Coγ射线的对比辐照与协和辐照试验。采用中带电压法(Mid-gap Technique,MGT)和电荷泵法(Charge Pumping,CP)对器件辐照过程中的氧化物陷阱电荷和界面态陷阱电荷进行了分离,结合Geant4工具包仿真质子在氧化层中初级反冲原子(Primary Knock-on Atom,PKA)的产生过程,对RADFETs质子与(60)^Coγ辐射响应差异的微观机理进行了探讨。研究结果表明:RADFETs对质子的剂量响应较少,但质子辐照会在RADFETs中引入位移损伤,加剧其邻近界面处的陷阱电荷对测量结果的影响。因此RADFETs在空间应用时,有必要使用质子电子的通量模型对测量数据进行修正或设计特定的标定方案。 展开更多
关键词 RADFETS 质子辐照 γ剂量标定 陷阱电荷分离
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