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表面累积层对N型Hg_(1-x)Cd_xTe输运特性及复合特性的影响
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作者 G. Mahr von Staszewskl C.Lex +3 位作者 G.Nimtz 方家熊 j. schilz R. Wollrab 《红外研究》 CSCD 北大核心 1990年第5期337-344,共8页
通过测量经紫外辐照的样品的磁输运特性和复合特性,研究N^+表面累积层对钝化N-Hg_(0.78)Cd_(0.22)Te的影响。紫外辐射使N^+表面层减少,从而使样品的电阻增大,这一现象与钝化氧化层俘获电子有关。观察到紫外辐照可使样品的载流子寿命减小... 通过测量经紫外辐照的样品的磁输运特性和复合特性,研究N^+表面累积层对钝化N-Hg_(0.78)Cd_(0.22)Te的影响。紫外辐射使N^+表面层减少,从而使样品的电阻增大,这一现象与钝化氧化层俘获电子有关。观察到紫外辐照可使样品的载流子寿命减小约90%。假设紫外辐射降低了由N^+表面层引起的内建电势,可解释较快的电子-空穴复合速率。被激发成准平带或弱耗尽状态的晶体的电子-空穴复合时间常数较小。N-Hg_(1-x)Cd_xTe表面层状态确定了光电导器件的最终设计。 展开更多
关键词 表面累积层 磁输运 HG1-XCDXTE
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