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穿透硅通孔:兼顾技术与成本的考虑 被引量:1
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作者 jan provoost Eric Beyne 《集成电路应用》 2009年第6期36-38,共3页
采用3维(3D)芯片层叠的生产技术用于制造更复杂、性能更强大、更具成本效率的系统,是一个具有前景的方向。采用穿透硅通孔(Thmugh Silicon Via,TSV)的连接技术可以有效地实现这种3D芯片层叠。这个技术很快已经初具雏形:公司和研... 采用3维(3D)芯片层叠的生产技术用于制造更复杂、性能更强大、更具成本效率的系统,是一个具有前景的方向。采用穿透硅通孔(Thmugh Silicon Via,TSV)的连接技术可以有效地实现这种3D芯片层叠。这个技术很快已经初具雏形:公司和研究中心已经找到许多可能的方法实现TSV,并与3D模块集成。 展开更多
关键词 生产技术 成本效率 通孔 穿透 SILICON 3D芯片 连接技术
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用于3D WLP和3D SIC的穿透硅通孔技术
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作者 jan provoost Deniz Sabuncuoglu Tezcan +1 位作者 Bart Swinnen Eric Beyne 《集成电路应用》 2008年第7期45-47,共3页
数家研究小组和公司已经展示了通过芯片叠层和穿透硅通孔(TSV)互连来实现复杂3D芯片的可行性。
关键词 3D芯片 通孔 穿透 WLP SIC 技术
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