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蚀刻与淀积的新概念反应室压力控制
1
作者
jean-pierre desbiolles
《中国集成电路》
2003年第51期83-87,共5页
本文叙述了一种采用小型干式泵的变速真空系统,可以取代传统的用于铝蚀刻和LPCVD氮化物淀积时的反应室压力控制,它更具大生产的价值。应用到单片晶圆(single-wafer)金属蚀刻设备时,它取消了靠近反应室的节流阀,从而减少了一个污染源,同...
本文叙述了一种采用小型干式泵的变速真空系统,可以取代传统的用于铝蚀刻和LPCVD氮化物淀积时的反应室压力控制,它更具大生产的价值。应用到单片晶圆(single-wafer)金属蚀刻设备时,它取消了靠近反应室的节流阀,从而减少了一个污染源,同时也减少了停工维修的时间。同样,应用到LPCVD氮化物淀积炉时,这种新设备不需要上游气压控制(upstreampressurecontrol)和氮气镇流(ni-trogenballasting),这样就大大减少了颗粒物的出现。
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关键词
蚀刻
淀积
反应室压力控制
半导体晶圆加工
LPCVD氮化物淀积炉
气压控制
氮气镇流
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职称材料
题名
蚀刻与淀积的新概念反应室压力控制
1
作者
jean-pierre desbiolles
机构
上海联恺公司
出处
《中国集成电路》
2003年第51期83-87,共5页
文摘
本文叙述了一种采用小型干式泵的变速真空系统,可以取代传统的用于铝蚀刻和LPCVD氮化物淀积时的反应室压力控制,它更具大生产的价值。应用到单片晶圆(single-wafer)金属蚀刻设备时,它取消了靠近反应室的节流阀,从而减少了一个污染源,同时也减少了停工维修的时间。同样,应用到LPCVD氮化物淀积炉时,这种新设备不需要上游气压控制(upstreampressurecontrol)和氮气镇流(ni-trogenballasting),这样就大大减少了颗粒物的出现。
关键词
蚀刻
淀积
反应室压力控制
半导体晶圆加工
LPCVD氮化物淀积炉
气压控制
氮气镇流
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
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1
蚀刻与淀积的新概念反应室压力控制
jean-pierre desbiolles
《中国集成电路》
2003
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