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半导体生产中硬质掩蔽层(SiN,SiN/Poly)的去除
1
作者
johnf.r.
李祥
《微电子技术》
1995年第6期67-71,共5页
半导体生产对掩蔽层有强烈的依赖关系。因为在许多步骤中,掩蔽层对其下层结构有保护作用。大家熟悉的光刻软质膜基本是由有机材料组成的。至于硬质掩蔽层,象局部氧化用(LOCOS)SiN层,是无机的,它可承受更加恶劣的工艺环境。同样,...
半导体生产对掩蔽层有强烈的依赖关系。因为在许多步骤中,掩蔽层对其下层结构有保护作用。大家熟悉的光刻软质膜基本是由有机材料组成的。至于硬质掩蔽层,象局部氧化用(LOCOS)SiN层,是无机的,它可承受更加恶劣的工艺环境。同样,它们要求用专门的去除技术,本文讨论了湿法和干法硬质掩蔽层的去除方法。
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关键词
半导体生产
硬质掩蔽层
干法工艺
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职称材料
题名
半导体生产中硬质掩蔽层(SiN,SiN/Poly)的去除
1
作者
johnf.r.
李祥
出处
《微电子技术》
1995年第6期67-71,共5页
文摘
半导体生产对掩蔽层有强烈的依赖关系。因为在许多步骤中,掩蔽层对其下层结构有保护作用。大家熟悉的光刻软质膜基本是由有机材料组成的。至于硬质掩蔽层,象局部氧化用(LOCOS)SiN层,是无机的,它可承受更加恶劣的工艺环境。同样,它们要求用专门的去除技术,本文讨论了湿法和干法硬质掩蔽层的去除方法。
关键词
半导体生产
硬质掩蔽层
干法工艺
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
半导体生产中硬质掩蔽层(SiN,SiN/Poly)的去除
johnf.r.
李祥
《微电子技术》
1995
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