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先进DRAM驱动高深宽比刻蚀的发展
1
作者
S.Welch
K.Keswick
+6 位作者
P.Stout
J.Kim
W.Lee
C.Ying
k.doan
H.S.Kim
B.Pu
《集成电路应用》
2009年第5期29-32,共4页
DRAM器件制造商通过缩小设计规则、芯片尺寸来提高存储器性能和密度的方法,正面临着众多挑战。增大电容面积,使用更高介电常数的材料,以及减薄介电材料厚度等方法都能够继续延续电容的形式和功能。
关键词
DRAM
高深宽比
高介电常数
刻蚀
驱动
材料厚度
设计规则
芯片尺寸
下载PDF
职称材料
题名
先进DRAM驱动高深宽比刻蚀的发展
1
作者
S.Welch
K.Keswick
P.Stout
J.Kim
W.Lee
C.Ying
k.doan
H.S.Kim
B.Pu
机构
Applied Materials Inc.
出处
《集成电路应用》
2009年第5期29-32,共4页
文摘
DRAM器件制造商通过缩小设计规则、芯片尺寸来提高存储器性能和密度的方法,正面临着众多挑战。增大电容面积,使用更高介电常数的材料,以及减薄介电材料厚度等方法都能够继续延续电容的形式和功能。
关键词
DRAM
高深宽比
高介电常数
刻蚀
驱动
材料厚度
设计规则
芯片尺寸
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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出处
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1
先进DRAM驱动高深宽比刻蚀的发展
S.Welch
K.Keswick
P.Stout
J.Kim
W.Lee
C.Ying
k.doan
H.S.Kim
B.Pu
《集成电路应用》
2009
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