硅中浅杂质A^+态的远红外光电导谱

用Fourier变换光谱仪测定了Si:B,Si:Al,及Si:Ga诸样品的A^+态远红外光电导谱,并首次测得了电场对A^+态的影响。对实验结果及A^+态产生机制进行了讨论。