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硅橡胶复合绝缘子在不同可溶污秽成分下的闪络特性研究 被引量:23
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作者 蒋兴良 杨忠毅 +2 位作者 韩兴波 张东东 k.l.wong 《中国电机工程学报》 EI CSCD 北大核心 2018年第1期320-329,共10页
随着社会经济和汽车工业的蓬勃发展,电力系统外绝缘污秽成分逐渐趋于多样性,不同污秽对硅橡胶复合绝缘子污闪特性的影响不同,现有研究大多未对这一因素加以考虑。该文试验研究了硅橡胶绝缘子在NaCl、CaSO4、MgSO4、KNO3、NaNO3、NHNO... 随着社会经济和汽车工业的蓬勃发展,电力系统外绝缘污秽成分逐渐趋于多样性,不同污秽对硅橡胶复合绝缘子污闪特性的影响不同,现有研究大多未对这一因素加以考虑。该文试验研究了硅橡胶绝缘子在NaCl、CaSO4、MgSO4、KNO3、NaNO3、NHNO3、Mg(NO3)2、Ca(NO3)28种常见单一可溶污秽成分下的污闪特性,试验中,采用浸污法对试品进行染污,恒压升降法获取绝缘子闪络电压;根据试验结果,对可溶污秽成分对绝缘子污闪特性的影响机理进行了分析,并对其影响规律进行了探究。结果表明:硅橡胶复合绝缘子在不同可溶污秽成分下对应的污闪特性有所差异,但均可用负幂函数表征污闪梯度与等值盐密(equivalent saltdeposit density, ESDD)的关系;相同ESDD下,NaCl对应较低的污闪电压梯度,而CaSO4对应较高的污闪梯度,硝酸盐的n值介于0.178~0.238之间:各可溶污秽成分阴离子对应的污闪梯度规律为CI-〈N03-〈SO42-;对于硝酸盐而言,其阳离子对应的污闪梯度大小为K+〈Na+、NH4+〈Ca2+;在单一易溶污秽染污情况下,硅橡胶复合绝缘子污闪梯度特征参数6c与n之间满足线性负相关关系,即a可用n的线性函数进行表示,这可为工程设计减少试验次数,节约设计成本。 展开更多
关键词 硅橡胶 绝缘子 污秽成分 等值盐密 闪络电压梯度
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元器件失效率预计模型的新框架 被引量:1
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作者 k.l.wong 常亮明 《电子产品可靠性与环境试验》 1996年第3期14-20,共7页
本文介绍一种元器件失效率模型的新框架。它是美国空军研制军事电子可靠性预计模型工作的一部分.这里没有包括的其它工作是关于组件和系统级的可靠性预计.已出版的数据表明现有的可靠性预计方法远远达不到要求的精度.现有方法的问题之... 本文介绍一种元器件失效率模型的新框架。它是美国空军研制军事电子可靠性预计模型工作的一部分.这里没有包括的其它工作是关于组件和系统级的可靠性预计.已出版的数据表明现有的可靠性预计方法远远达不到要求的精度.现有方法的问题之一是未包含关键性因子.新框架基于这样的假设:本质上所有的失效都是由于内部缺陷、失效机理和应力相互作用引起的.这三种成分有助于形成作为应力施加时间、热循环次数和振动时间的函数的失效分布.Weibull分布已经被选做一般分布.为了提供元器件失效率函数,通过诸如缺陷数量、环境应力筛选的效果、日历时间的可靠性改进以及卖主的质量差别等关键因素来修改此分布.为了对框架提供说服力,应用已出版的数据和信息.本文不是一种纯理论的练习.对预计失效率特征的认识已经使作者正确地做出许多可靠性工程决策,特别是在环境应力筛选和可靠性验证试验方面.为了改进用现有手册预计可靠性的精度,在根据新框架建立的新的可靠性预计方法完善之前,不可避免的是模型框架适用的部分和关于识别关键因子的有用知识立刻得到应用,以改进使用现存手册的可靠性预计.这能够通过减少现有手册中的参数而用新的模型参数重新分配它们,并且加上忽略了的新参数来实现. 展开更多
关键词 可靠性预计 数字模型 元器件 缺陷 失效机理
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Influence of Superathermal Electrons oll Central Plasma Relaxation Oscillations during Localized Electron Cyclotron Heating on the HL-1M Tokamak
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作者 刘仪 郭干城 +1 位作者 丁玄同 k.l.wong 《Plasma Science and Technology》 SCIE EI CAS CSCD 2002年第1期1153-1162,共10页
During initial studies of ECRH in the HL-1M tokamak, non-standard central MHD activities,such as saturated sawtooth, partially saturated sawtooth, double sawtooth, and the strong m = 1 bursts have been observed while ... During initial studies of ECRH in the HL-1M tokamak, non-standard central MHD activities,such as saturated sawtooth, partially saturated sawtooth, double sawtooth, and the strong m = 1 bursts have been observed while changing the heating location, the ECRH power, the plasma density. Complete suppression of sawtooth is achieved for the duration of the ECRH, when the heating power is applied on the high-field side of low-density plasma, and exceeds a threshold value of power. The m = 1 bursts riding on the ramp phase of sawtooth can only be excited when the ECRH location is near the q = 1 surface on the high field side. The conditions under which the various relaxation activities are produced or suppressed are described. Experimental results imply that the energetic electrons generated during ECRH are responsible for the modification/or stabilization/or excitation of the instability. Near the q = 1 surface, the passing electrons play the role of reducing the shear and tending to stabilize the sawtooth activity, while the barely-trapped electrons play the role of enhancing or driving an internal kink instability. 展开更多
关键词 Influence of Superathermal Electrons oll Central ECRH Plasma Relaxation Oscillations during Localized Electron Cyclotron Heating on the HL-1M Tokamak HL
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