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AOTF-NIR光谱仪用于混合气体定量分析的探索 被引量:4
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作者 郝惠敏 曹建安 +2 位作者 于志强 ken jia 刘君华 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2009年第8期2087-2091,共5页
探索了以声光可调滤波器(acousto-optic tunable filter,AOTF)为分光器件的新一代近红外(NIR)光谱仪用于气体检测的可行性,并提出一种多组分混合气体近红外光谱分析的新方法。将一个自制的气室与AOTF-NIR光谱仪配接,从而实现了当前仅限... 探索了以声光可调滤波器(acousto-optic tunable filter,AOTF)为分光器件的新一代近红外(NIR)光谱仪用于气体检测的可行性,并提出一种多组分混合气体近红外光谱分析的新方法。将一个自制的气室与AOTF-NIR光谱仪配接,从而实现了当前仅限于固体和液体检测的AOTF-NIR光谱仪对气体的检测。实验首先获取并比较了甲烷在不同浓度下的近红外光谱。结果显示,当浓度大于0.1%时,甲烷的吸光度明显地随其浓度的增加而增加。随后参照仪器对甲烷的检测低限设计了甲烷、乙烷和丙烷三组分混合气体样本,并采集了它们的近红外光谱。三种组分气体的定量分析模型由核偏最小二乘(kernel partial least squares,KPLS)回归法建立,模型的预测能力采用检验集的预测均方根误差(root mean square error of prediction,RMSEP)评定。与偏最小二乘(PLS)回归分析效果的对比研究表明,KPLS回归较PLS回归在NIR光谱数据的分析上更具优越性。 展开更多
关键词 声光可调滤波器 近红外光谱 核偏最小二乘回归 气体混合物 定量分析
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Thickness Measurement of Insulation Coating by NIR Spectrometry Based on Boosting-KPLS 被引量:1
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作者 HAO Hui-min LI Shi-wei +5 位作者 ZHANG Wen-dong LI Peng-wei HAO Jun-yu LU Hai-ning ken jia ZHANG Yong 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2011年第8期2081-2085,共5页
A novel thickness measurement method for surface insulation coating of silicon steel based on NIR spectrometry is explored.The NIR spectra of insulation coating of silicon steel were collected by acousto-optic tunable... A novel thickness measurement method for surface insulation coating of silicon steel based on NIR spectrometry is explored.The NIR spectra of insulation coating of silicon steel were collected by acousto-optic tunable filter(AOTF) NIR spectrometer.To make full use of the effective information of NIR spectral data,discrete binary particle swarm optimization(DBPSO) algorithm was used to select the optimal wavelength variates.The new spectral data,composed of absorbance at selected wavelengths,were used to create the thickness quantitative analysis model by kernel partial least squares(KPLS) algorithm coupled with Boosting.The results of contrast experiments showed that the Boosting-KPLS model could efficiently improve the analysis accuracy and speed.It indicates that Boosting-KPLS is a more accurate and robust analysis method than KPLS for NIR spectral analysis.The maximal and minimal absolute error of 30 testing samples is respectively-0.02 μm and 0.19 μm,and the maximal relative error is 14.23%.These analysis results completely meet the practical measurement need. 展开更多
关键词 Insulation coating Thickness measurement DBPSO BOOSTING KPLS
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基于Boosting-KPLS的近红外绝缘涂层厚度检测
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作者 郝惠敏 郝俊宇 +1 位作者 卢海宁 ken jia 《自动化博览》 2011年第S2期10-14,共5页
探索了一种基于近红外光谱法实现的硅钢表面绝缘涂层厚度检测方法。该方法采用声光可调滤波器近红外光谱仪采集硅钢表面绝缘涂层的近红外光谱,为进一步提取近红外光谱数据的有效信息,采用离散粒子群优化(discretebinary particle swarm ... 探索了一种基于近红外光谱法实现的硅钢表面绝缘涂层厚度检测方法。该方法采用声光可调滤波器近红外光谱仪采集硅钢表面绝缘涂层的近红外光谱,为进一步提取近红外光谱数据的有效信息,采用离散粒子群优化(discretebinary particle swarm optimization,DBPSO)算法对近红外光谱数据进行最佳波长变量筛选,并用筛选得到的新的光谱数据建立涂层厚度的Boosting-核偏最小二乘(kernel partial least squares,KPLS)定量分析模型。对比实验结果显示,Boosting-KPLS算法可以提高定量分析模型的分析准确度和速度,是一种较KPLS更为稳健、分析准确度更高的近红外光谱分析方法。文中所建定量分析模型对30个检验样本分析的绝对误差最小值为-0.02μm,最大值为0.19μm,最大相对误差为14.23%,完全符合实际检验的需要。 展开更多
关键词 绝缘涂层 厚度检测 DBPSO BOOSTING KPLS
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