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数字系统的内装自测试 被引量:2
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作者 CHARLESR.KIME kewalk.saluja 矫美 《计算机与数字工程》 1996年第2期43-57,共15页
本文概述了数字系统的内装自测试(BIST)的原理和实现。在第Ⅰ部分,作者提出了BIST的各种论点以及经济上的优劣,并介绍了有关的分层测试结构。解释了基本BIST的模式产生和响应分析概念。在第Ⅰ部分还补充讨论了LFSR理论,在第Ⅱ部分,将讨... 本文概述了数字系统的内装自测试(BIST)的原理和实现。在第Ⅰ部分,作者提出了BIST的各种论点以及经济上的优劣,并介绍了有关的分层测试结构。解释了基本BIST的模式产生和响应分析概念。在第Ⅰ部分还补充讨论了LFSR理论,在第Ⅱ部分,将讨论BIST的硬件实现、应用和工具。 展开更多
关键词 自测试 数字系统 可测试性设计
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Fault Diagnosis of Physical Defects Using Unknown Behavior Model
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作者 Xiao-QingWen HideoTamamoto: +1 位作者 kewalk.saluja KozoKinoshita 《Journal of Computer Science & Technology》 SCIE EI CSCD 2005年第2期187-194,共8页
A new fault model, called the X-fault model, is proposed for fault diagnosisof physical defects with unknown behaviors by using X symbols. An efficient X-fault simulationmethod and an efficient X-fault diagnostic reas... A new fault model, called the X-fault model, is proposed for fault diagnosisof physical defects with unknown behaviors by using X symbols. An efficient X-fault simulationmethod and an efficient X-fault diagnostic reasoning method are presented. Fault diagnosis based onthe X-fault model can improve the accuracy of failure analysis for a wide range of physical defectsin complex and deep submicron integrated circuits. 展开更多
关键词 fault diagnosis X-fault model fault simulation byzantine behavior diagnostic resolution
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