丝阵靶箍缩等离子体软X射线辐射能谱研究

在S—300装置上研究了丝阵靶Z箍缩等离子体的软X射线辐射的动态过程。利用多通道X射线谱仪在50～2000eV范围内测量了丝阵靶内爆等离子体X射线辐射谱,辐射主要位于60～220eV谱段。辐射谱可用温度为40～50eV的Planck黑体谱近似描述。在能量高于500eV的谱段,辐射谱与Planck黑体谱有较大的偏离。这主要是因为等离子体热斑的出现、在1.5～2keV范围内线谱的存在和加速电子轫致辐射的结果。

不同Z-箍缩负载磁绝缘传输线电流损失特性

在装置“S-300”上,通过测量真空磁绝缘传输线中电极间电子流轫致辐射和负载上的电流、电压等参数,研究了磁绝缘传输线中的电流损失特性。实验中使用了阻抗特性不同的3种负载,结果表明,磁绝缘传输线中的电流损失特性显著地取决于负载。当负载为丝阵靶时,电流损失出现在丝阵等离子体最大箍缩时刻,且其值不超过负载总电流的5%。