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阿尔金山前东坪花岗岩成因及其构造环境研究 被引量:4
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作者 陶金雨 李建明 +2 位作者 汪立群 张永庶 吴志雄 《矿物岩石地球化学通报》 CAS CSCD 北大核心 2018年第3期461-468,共8页
为探讨阿尔金山前东坪基岩花岗岩的岩石成因类型和构造演化背景,对东坪花岗岩进行了岩石学和元素地球化学研究。结果表明,东坪花岗岩体富硅(SiO2均值为71.4%)、富铝(Al2O3均值为13.57%),其碱度率A.R.值为2.23~3.19,铝饱和指数A/CNK... 为探讨阿尔金山前东坪基岩花岗岩的岩石成因类型和构造演化背景,对东坪花岗岩进行了岩石学和元素地球化学研究。结果表明,东坪花岗岩体富硅(SiO2均值为71.4%)、富铝(Al2O3均值为13.57%),其碱度率A.R.值为2.23~3.19,铝饱和指数A/CNK大于1.44,属于过铝质的高钾钙碱性花岗岩;其富集大离子亲石元素、亏损高场强元素,稀土配分模式属于中等右倾型,铕负异常(δEu为0.44~0.61),轻稀土富集。其岩石成因类型为S型花岗岩,源自地壳杂砂岩重熔,没有地幔物质参与或参与较少。东坪花岗质岩浆侵入活动发育在加里东晚期的岛弧环境,指示南阿尔金山前地区存在大陆边缘的沟-弧-盆体系,其原岩形成于塔里木向柴达木地块的俯冲及碰撞演化背景。 展开更多
关键词 早古生代 S型花岗岩 元素地球化学 东坪地区 柴达木盆地
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Photoelectric Conversion Efficiency Enhanced by Tilting Monocrystalline Silicon Photovoltaic Devices 被引量:1
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作者 lijian-ming CHONGMing +4 位作者 XUJia-dong HUChuan-xian DUANXiao-feng GAOMin WANGFeng-lian 《Semiconductor Photonics and Technology》 CAS 2004年第2期101-103,107,共4页
Based on the idea of tilting a photoelectric conversion device,the monocrystalline silicon p-n junction device was tilted to make light incident upon the device at an angle of 45° with the normal of the device su... Based on the idea of tilting a photoelectric conversion device,the monocrystalline silicon p-n junction device was tilted to make light incident upon the device at an angle of 45° with the normal of the device surface,resulting in infrared multiple-internal-reflection inside the device.The internal reflection leads to path length increase of infrared light,making the enhancement of infrared absorption of the device.An increase of 11% in energy conversion efficiency has been obtained through tilting the device. 展开更多
关键词 SILICON Photoelectric conversion Infrared absorption
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