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Structural study of sputtered nanocrystalline Ti and Zr by X-ray diffraction
1
作者 Shi, WZ Yao, RH +1 位作者 lin, KX lin, xy 《Chinese Science Bulletin》 SCIE EI CAS 1997年第22期1880-1883,共4页
Ti and Zr are extensively used as gas absorbent for obtaining ultrahigh vacuum because of
关键词 NANOCRYSTALLINE TI and ZR structure X-RAY diffraction.
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