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用于高功率密度功率因素校正的新一代600V砷化镓肖特基二极管
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作者 Stefan Steinhoff manfred reddig Steffen knigge 《电力电子》 2005年第6期22-25,共4页
在200W连续导通模式功率因数佼正(PFC)系统中,新一代600V砷化镓(GaAs)肖特基二极管与硅和碳化硅(SiC)二极管比较,砷化镓,碳化硅在PFC系统中的损耗减少高达25%。由于砷化镓有较低的结电容,砷化镓相对碳化硅高的通态损耗被较低的MOSFET损... 在200W连续导通模式功率因数佼正(PFC)系统中,新一代600V砷化镓(GaAs)肖特基二极管与硅和碳化硅(SiC)二极管比较,砷化镓,碳化硅在PFC系统中的损耗减少高达25%。由于砷化镓有较低的结电容,砷化镓相对碳化硅高的通态损耗被较低的MOSFET损耗弥补了。和碳化硅技术相比,砷化镓有成本和可靠性优势。对于高频和高密度应用来说,新一代的砷化镓二极管是很有前景的。 展开更多
关键词 肖特基二极管 砷化镓 功率因素校正 高功率密度 一代 功率因数校正 连续导通模式 MOSFET 通态损耗 碳化硅
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