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洁净室性能测试及认证的基础
1
作者
Mr.InderjitSingh
mr.ongyamchai
《电子工业专用设备》
2003年第1期5-6,共2页
由于当今芯片的线宽日趋细小,其设计和加工的工艺要求日益复杂,因此设计和建造相应的超净洁净室的价格也就变的非常昂贵,所以洁净室性能的测试就变的日益重要。在下面这篇文章中,新加坡CESSTECH公司突出了洁净室性能测试的重要性,并着...
由于当今芯片的线宽日趋细小,其设计和加工的工艺要求日益复杂,因此设计和建造相应的超净洁净室的价格也就变的非常昂贵,所以洁净室性能的测试就变的日益重要。在下面这篇文章中,新加坡CESSTECH公司突出了洁净室性能测试的重要性,并着眼于动态测试、测试标准和一些被推荐的惯例。
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关键词
洁净室
性能测试
芯片
测试标准
认证报告
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题名
洁净室性能测试及认证的基础
1
作者
Mr.InderjitSingh
mr.ongyamchai
出处
《电子工业专用设备》
2003年第1期5-6,共2页
文摘
由于当今芯片的线宽日趋细小,其设计和加工的工艺要求日益复杂,因此设计和建造相应的超净洁净室的价格也就变的非常昂贵,所以洁净室性能的测试就变的日益重要。在下面这篇文章中,新加坡CESSTECH公司突出了洁净室性能测试的重要性,并着眼于动态测试、测试标准和一些被推荐的惯例。
关键词
洁净室
性能测试
芯片
测试标准
认证报告
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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作者
出处
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1
洁净室性能测试及认证的基础
Mr.InderjitSingh
mr.ongyamchai
《电子工业专用设备》
2003
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