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Under Threshold Structural Damaging in Few-Layer Graphene due to Middle-and Low-Energy Electron Irradiation
1
作者
nazim r. guseinov arkady m. ilyin
《材料科学与工程（中英文A版）》
2014年第1期39-44,共6页
关键词
电子辐照
结构缺陷
阈值能量
低能量
石墨
电子束照射
扫描电子显微镜
中东
下载PDF
职称材料
题名
Under Threshold Structural Damaging in Few-Layer Graphene due to Middle-and Low-Energy Electron Irradiation
1
作者
nazim r. guseinov arkady m. ilyin
机构
National Nanolaboratory
出处
《材料科学与工程（中英文A版）》
2014年第1期39-44,共6页
关键词
电子辐照
结构缺陷
阈值能量
低能量
石墨
电子束照射
扫描电子显微镜
中东
Keywords
Few＇layer graphene, irradiation, vacancy, bridge-like radiation defect, charged puddles.
分类号
TQ565 [化学工程—炸药化工]
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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作者
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1
Under Threshold Structural Damaging in Few-Layer Graphene due to Middle-and Low-Energy Electron Irradiation
nazim r. guseinov arkady m. ilyin
《材料科学与工程（中英文A版）》
2014
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