期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
活性染料染色及印花后的洗涤
被引量:
5
1
作者
H.Heissler
K.Siemensmeyer
+2 位作者
A.Bastian
r.richter
钟毅
《国际纺织导报》
2005年第1期58-58,60-61,共3页
描述了创新的后皂洗剂CyclanonXC-W的特点与应用。用于活性染料染色与印花洗涤的传统助剂主要是用来抵消硬水的不利影响。只有CyclanonXC-W能阻止分离后的染料对织物的再沾污。使用CyclanonXC-W后,几乎不再需要漂洗,节省了水、能量、时...
描述了创新的后皂洗剂CyclanonXC-W的特点与应用。用于活性染料染色与印花洗涤的传统助剂主要是用来抵消硬水的不利影响。只有CyclanonXC-W能阻止分离后的染料对织物的再沾污。使用CyclanonXC-W后,几乎不再需要漂洗,节省了水、能量、时间和成本。
展开更多
关键词
活性染料染色
印花
洗涤
皂洗
漂洗
织物
助剂
硬水
洗剂
分离
下载PDF
职称材料
掩膜级测量为闪存设计预测成像质量
2
作者
E.van Setten
O.Wismans
+5 位作者
K.Grim
J.Finders
M.Dusa
R.Birkner
r.richter
T.Scherübl
《集成电路应用》
2008年第11期26-29,32,共5页
闪存不断推动着器件尺寸等比例缩小的进程,高数值孔径浸没式光刻使得45nm及以下技术节点成为可能。一些掩膜参数对于成像性能有很重要的影响,并且曝光前掩膜的空间成像可以用于定义成像质量。
关键词
成像质量
闪存
掩膜
预测
设计
测量
高数值孔径
器件尺寸
下载PDF
职称材料
题名
活性染料染色及印花后的洗涤
被引量:
5
1
作者
H.Heissler
K.Siemensmeyer
A.Bastian
r.richter
钟毅
机构
BASF公司(德国)
出处
《国际纺织导报》
2005年第1期58-58,60-61,共3页
文摘
描述了创新的后皂洗剂CyclanonXC-W的特点与应用。用于活性染料染色与印花洗涤的传统助剂主要是用来抵消硬水的不利影响。只有CyclanonXC-W能阻止分离后的染料对织物的再沾污。使用CyclanonXC-W后,几乎不再需要漂洗,节省了水、能量、时间和成本。
关键词
活性染料染色
印花
洗涤
皂洗
漂洗
织物
助剂
硬水
洗剂
分离
Keywords
aftersoaping agent, auxiliary, washing
分类号
TS190 [轻工技术与工程—纺织化学与染整工程]
下载PDF
职称材料
题名
掩膜级测量为闪存设计预测成像质量
2
作者
E.van Setten
O.Wismans
K.Grim
J.Finders
M.Dusa
R.Birkner
r.richter
T.Scherübl
机构
ASML Netherlands BV
ASML TDC
Carl Zeiss SMS GmbH
出处
《集成电路应用》
2008年第11期26-29,32,共5页
文摘
闪存不断推动着器件尺寸等比例缩小的进程,高数值孔径浸没式光刻使得45nm及以下技术节点成为可能。一些掩膜参数对于成像性能有很重要的影响,并且曝光前掩膜的空间成像可以用于定义成像质量。
关键词
成像质量
闪存
掩膜
预测
设计
测量
高数值孔径
器件尺寸
分类号
TN305.7 [电子电信—物理电子学]
TB852.1 [一般工业技术—摄影技术]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
活性染料染色及印花后的洗涤
H.Heissler
K.Siemensmeyer
A.Bastian
r.richter
钟毅
《国际纺织导报》
2005
5
下载PDF
职称材料
2
掩膜级测量为闪存设计预测成像质量
E.van Setten
O.Wismans
K.Grim
J.Finders
M.Dusa
R.Birkner
r.richter
T.Scherübl
《集成电路应用》
2008
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部