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Semiconductor Yield Analysis and Multi-Chip Package(MCP) Dic Pairing Optimization using Machine Learning
1
作者
randall goodwin
Russell Miller
+1 位作者
Eugene Tuv
Alexander Borisov
《电子工业专用设备》
2006年第8期I0001-I0010,共10页
关键词
STATISTICS
machine
learning
data
mining
OPTIMIZATION
下载PDF
职称材料
题名
Semiconductor Yield Analysis and Multi-Chip Package(MCP) Dic Pairing Optimization using Machine Learning
1
作者
randall goodwin
Russell Miller
Eugene Tuv
Alexander Borisov
机构
Technology and Manufacturing Group
出处
《电子工业专用设备》
2006年第8期I0001-I0010,共10页
关键词
STATISTICS
machine
learning
data
mining
OPTIMIZATION
Keywords
statistics, machine learning, data mining, optimization
分类号
TN [电子电信]
下载PDF
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作者
出处
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1
Semiconductor Yield Analysis and Multi-Chip Package(MCP) Dic Pairing Optimization using Machine Learning
randall goodwin
Russell Miller
Eugene Tuv
Alexander Borisov
《电子工业专用设备》
2006
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