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工程验证测试系统加速高量产消费器件的面市时间
1
作者
richard gaunt
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第1期47-48,共2页
关键词
工程验证测试系统
高量产集成电路
复杂度
面市时间
下载PDF
职称材料
题名
工程验证测试系统加速高量产消费器件的面市时间
1
作者
richard gaunt
机构
科利登系统有限公司
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第1期47-48,共2页
关键词
工程验证测试系统
高量产集成电路
复杂度
面市时间
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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1
工程验证测试系统加速高量产消费器件的面市时间
richard gaunt
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
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