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第二代先进焦平面列阵需要精确测试
1
作者 steve mchugh 顾聚兴 《红外》 CAS 1994年第3期13-17,共5页
新的高性能焦平面列阵对表征其特性的测试设备提出了高要求。由于现代红外探测器列阵的灵敏度和空间分辨率已经提高,用来表征其特性的传统设备和方法已不能胜任。在测试第二代焦平面列阵时,
关键词 红外探测器 焦平面列阵 测量
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