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如何确定功率MOSFET的适用性
被引量:
2
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作者
sungmo young
《世界电子元器件》
2006年第3期39-40,70,共3页
功率金属氧化半导体场效应晶体管(Power MOSFET)是当今电源中广泛使用的开关器件。功率MOSFET的工作频率不断提高,以减小器件尺寸和提高功率密度。这样就会增加电流变化率(di/dt),增强了寄生电感的负面作用,导致功率MOSFET源极...
功率金属氧化半导体场效应晶体管(Power MOSFET)是当今电源中广泛使用的开关器件。功率MOSFET的工作频率不断提高,以减小器件尺寸和提高功率密度。这样就会增加电流变化率(di/dt),增强了寄生电感的负面作用,导致功率MOSFET源极和漏极之间产生很高的电压尖峰。这种尖峰电压在器件上电时更为严重,因为在上电瞬间变压器的初级电感几乎达到漏感的水平,同时器件的体电容还未完成充电且电感较小。幸好功率MOSFET具有一定的抗过压能力,因此无需外加成本高昂的保护电路。
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关键词
功率MOSFET
适用性
半导体场效应晶体管
开关器件
寄生电感
高功率密度
电流变化率
金属氧化
工作频率
负面作用
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职称材料
在500V电压等级的AC/DC应用中最优化平面型MOSFET与超大结MOSFET的竞争
2
作者
Sampat Shekhawat
Praveen Shenoy
+1 位作者
sungmo young
Bob Brockway
《电力电子》
2005年第6期26-29,共4页
仙童公司(Fairchild)面向开关电源市场推出了一款新型最优化高速平面型MOSFET,与通常的500V电压等级的MOSFET相比,它可以降低全方位的损耗。与市场上的超大结面积型的MOSFET相比,这种MOSFET 可以减少开关损耗。而和通常的标准MOSFET器...
仙童公司(Fairchild)面向开关电源市场推出了一款新型最优化高速平面型MOSFET,与通常的500V电压等级的MOSFET相比,它可以降低全方位的损耗。与市场上的超大结面积型的MOSFET相比,这种MOSFET 可以减少开关损耗。而和通常的标准MOSFET器件相比,它的导通损耗则大大降低。因此这种500V电压等级的MOSFET可以和一部分超大结面积型MOSFET展开市场争夺方面的竞争。
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关键词
MOSFET器件
电压等级
平面型
最优化
AC/DC
竞争
FAIRCHILD
应用
开关损耗
超大面积
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职称材料
题名
如何确定功率MOSFET的适用性
被引量:
2
1
作者
sungmo young
机构
飞兆半导体公司
出处
《世界电子元器件》
2006年第3期39-40,70,共3页
文摘
功率金属氧化半导体场效应晶体管(Power MOSFET)是当今电源中广泛使用的开关器件。功率MOSFET的工作频率不断提高,以减小器件尺寸和提高功率密度。这样就会增加电流变化率(di/dt),增强了寄生电感的负面作用,导致功率MOSFET源极和漏极之间产生很高的电压尖峰。这种尖峰电压在器件上电时更为严重,因为在上电瞬间变压器的初级电感几乎达到漏感的水平,同时器件的体电容还未完成充电且电感较小。幸好功率MOSFET具有一定的抗过压能力,因此无需外加成本高昂的保护电路。
关键词
功率MOSFET
适用性
半导体场效应晶体管
开关器件
寄生电感
高功率密度
电流变化率
金属氧化
工作频率
负面作用
分类号
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
TN386 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
在500V电压等级的AC/DC应用中最优化平面型MOSFET与超大结MOSFET的竞争
2
作者
Sampat Shekhawat
Praveen Shenoy
sungmo young
Bob Brockway
机构
Discrete Power Group Fairchild Semiconductor
出处
《电力电子》
2005年第6期26-29,共4页
文摘
仙童公司(Fairchild)面向开关电源市场推出了一款新型最优化高速平面型MOSFET,与通常的500V电压等级的MOSFET相比,它可以降低全方位的损耗。与市场上的超大结面积型的MOSFET相比,这种MOSFET 可以减少开关损耗。而和通常的标准MOSFET器件相比,它的导通损耗则大大降低。因此这种500V电压等级的MOSFET可以和一部分超大结面积型MOSFET展开市场争夺方面的竞争。
关键词
MOSFET器件
电压等级
平面型
最优化
AC/DC
竞争
FAIRCHILD
应用
开关损耗
超大面积
分类号
TM727 [电气工程—电力系统及自动化]
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
如何确定功率MOSFET的适用性
sungmo young
《世界电子元器件》
2006
2
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职称材料
2
在500V电压等级的AC/DC应用中最优化平面型MOSFET与超大结MOSFET的竞争
Sampat Shekhawat
Praveen Shenoy
sungmo young
Bob Brockway
《电力电子》
2005
0
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职称材料
已选择
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参考文献
引证文献
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