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正弦相位调制菲索干涉仪
1
作者
sasak.
,
o
李熙
《国外计量》
1990年第5期 8-10,共3页
<正> 一、前言菲索干涉仪对于光学系统中发生的摆振问题是不敏感的,而且它可方便地用于大直径物体表面轮廓的测量。这两个优点对于高达1nm量级的高准确度表面轮廓的测量特别重要。如果我们用一台泰曼-格林干涉仪测量一大直径物体...
<正> 一、前言菲索干涉仪对于光学系统中发生的摆振问题是不敏感的,而且它可方便地用于大直径物体表面轮廓的测量。这两个优点对于高达1nm量级的高准确度表面轮廓的测量特别重要。如果我们用一台泰曼-格林干涉仪测量一大直径物体,如直径80mm 平板玻璃的表面轮廓。
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关键词
菲索干涉仪
正弦相位调制
干涉仪
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职称材料
题名
正弦相位调制菲索干涉仪
1
作者
sasak.
,
o
李熙
出处
《国外计量》
1990年第5期 8-10,共3页
文摘
<正> 一、前言菲索干涉仪对于光学系统中发生的摆振问题是不敏感的,而且它可方便地用于大直径物体表面轮廓的测量。这两个优点对于高达1nm量级的高准确度表面轮廓的测量特别重要。如果我们用一台泰曼-格林干涉仪测量一大直径物体,如直径80mm 平板玻璃的表面轮廓。
关键词
菲索干涉仪
正弦相位调制
干涉仪
分类号
TH744.3 [机械工程—光学工程]
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题名
作者
出处
发文年
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1
正弦相位调制菲索干涉仪
sasak.
,
o
李熙
《国外计量》
1990
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