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Dependence of Microstucture on Errors in X-Ray Diffraction Profile Measurement
1
作者
Zeljko Skoko
stanko popovi
Goran Stefanic
《材料科学与工程（中英文A版）》
2013年第10期690-697,共8页
关键词
X射线衍射谱
测量误差
显微组织
微观结构参数
对中
X-射线
配置文件
截断误差
下载PDF
职称材料
题名
Dependence of Microstucture on Errors in X-Ray Diffraction Profile Measurement
1
作者
Zeljko Skoko
stanko popovi
Goran Stefanic
机构
Physics Department
Ruder Bogkovic Institute
出处
《材料科学与工程（中英文A版）》
2013年第10期690-697,共8页
关键词
X射线衍射谱
测量误差
显微组织
微观结构参数
对中
X-射线
配置文件
截断误差
Keywords
X-ray powder diffraction, diffraction profile analysis errors, crystallite size, strain.
分类号
TG146.21 [金属学及工艺—金属材料]
TF123.72 [冶金工程—粉末冶金]
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职称材料
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作者
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1
Dependence of Microstucture on Errors in X-Ray Diffraction Profile Measurement
Zeljko Skoko
stanko popovi
Goran Stefanic
《材料科学与工程（中英文A版）》
2013
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职称材料
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