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在图像传感器和存储产品中应用硅通孔工艺的300mm光刻与键合技术(英文)
1
作者
Margarete Zoberbier
stefan lutter
+2 位作者
Marc Hennemeyer
Dr.-Ing. Barbara Neubert
Ralph Zoberbier
《电子工业专用设备》
2009年第6期29-35,共7页
三维集成的技术优势正在延伸到大量销售的诸如消费类电子设备潜在应用的产品领域。这些新技术也在推进着当前许多生产工艺的包封能力,其中包括光刻工艺和晶圆键合。> 还需要涂胶,形成图形和刻蚀图形结构。研究了一些用于三维封装的...
三维集成的技术优势正在延伸到大量销售的诸如消费类电子设备潜在应用的产品领域。这些新技术也在推进着当前许多生产工艺的包封能力,其中包括光刻工艺和晶圆键合。> 还需要涂胶,形成图形和刻蚀图形结构。研究了一些用于三维封装的光刻和晶圆键合技术问题并将叙述全部的挑战和适用的解决方案。技术方面的处理结果将通过晶圆键合和光刻工序一起讨论。
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关键词
三维集成
硅通孔技术(TSV)
圆片级封装
键合对准
硅熔焊
铜-铜键合
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职称材料
题名
在图像传感器和存储产品中应用硅通孔工艺的300mm光刻与键合技术(英文)
1
作者
Margarete Zoberbier
stefan lutter
Marc Hennemeyer
Dr.-Ing. Barbara Neubert
Ralph Zoberbier
机构
SUSS MicroTec Lithography
出处
《电子工业专用设备》
2009年第6期29-35,共7页
文摘
三维集成的技术优势正在延伸到大量销售的诸如消费类电子设备潜在应用的产品领域。这些新技术也在推进着当前许多生产工艺的包封能力,其中包括光刻工艺和晶圆键合。> 还需要涂胶,形成图形和刻蚀图形结构。研究了一些用于三维封装的光刻和晶圆键合技术问题并将叙述全部的挑战和适用的解决方案。技术方面的处理结果将通过晶圆键合和光刻工序一起讨论。
关键词
三维集成
硅通孔技术(TSV)
圆片级封装
键合对准
硅熔焊
铜-铜键合
Keywords
3-D Integration
Through Silicon Via (TSV)
WLP
Bond Alignment
Silicon Fusion Bond-ing
Copper-Copper Bonding
分类号
TN405.97 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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作者
出处
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1
在图像传感器和存储产品中应用硅通孔工艺的300mm光刻与键合技术(英文)
Margarete Zoberbier
stefan lutter
Marc Hennemeyer
Dr.-Ing. Barbara Neubert
Ralph Zoberbier
《电子工业专用设备》
2009
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