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基于FinFET的IC产品的设计和测试 被引量：1
1
作者 Carey Robertson steve pateras 《中国集成电路》 2016年第8期37-37,80,共2页
FinFET晶体管的兴起对IC物理设计和可测试性设计流程具有显著影响。引入FinFET意味着在IC设计流程中，CMOS晶体管必须建模为三维（3D）器件，
关键词 FINFET IC产品 设计流程 可测试性 CMOS晶体管 物理设计 器件
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