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Effective Channel Length Degradation under Hot-Carrier Stressing
1
作者
Anucha Ruangphanit
Kunagone Kiddee
+2 位作者
Rangson Muanghlua
surasak niemcharoen
Ampom Poyai
《Computer Technology and Application》
2011年第11期926-929,共4页
关键词
通道长度
热载流子
金属氧化物半导体场效应晶体管
渠道
降解
时间压力
最大坡度
面积测量
下载PDF
职称材料
Phase Transitions and Dielectric Properties of Lead-Free Bi0.5K0.5TiO3-BaTiO3 Piezoelectric Ceramics
2
作者
Anucha Ruangphanit
Rangson Muanghlua
surasak niemcharoen
《Journal of Energy and Power Engineering》
2013年第2期370-374,共5页
关键词
无铅压电陶瓷
铁电相变
介电性能
钛酸钡
X射线衍射
晶体结构
四方晶系
固相反应法
下载PDF
职称材料
题名
Effective Channel Length Degradation under Hot-Carrier Stressing
1
作者
Anucha Ruangphanit
Kunagone Kiddee
Rangson Muanghlua
surasak niemcharoen
Ampom Poyai
机构
Thai Microelectronics Center (TMEC)
Department of Electronics Engineering
出处
《Computer Technology and Application》
2011年第11期926-929,共4页
关键词
通道长度
热载流子
金属氧化物半导体场效应晶体管
渠道
降解
时间压力
最大坡度
面积测量
Keywords
NMOSFETs (metal oxide semiconductor field effect transistor), effective channel length, hot carrier stressing
分类号
TN929.11 [电子电信—通信与信息系统]
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
Phase Transitions and Dielectric Properties of Lead-Free Bi0.5K0.5TiO3-BaTiO3 Piezoelectric Ceramics
2
作者
Anucha Ruangphanit
Rangson Muanghlua
surasak niemcharoen
机构
Thai MicroElectronics Center (TMEC)
Department of Electronics Engineering
出处
《Journal of Energy and Power Engineering》
2013年第2期370-374,共5页
关键词
无铅压电陶瓷
铁电相变
介电性能
钛酸钡
X射线衍射
晶体结构
四方晶系
固相反应法
Keywords
Piezoelectric ceramics
perovskite
XRD
tetragonality
BKT.
分类号
TQ174.758 [化学工程—陶瓷工业]
TM282 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
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1
Effective Channel Length Degradation under Hot-Carrier Stressing
Anucha Ruangphanit
Kunagone Kiddee
Rangson Muanghlua
surasak niemcharoen
Ampom Poyai
《Computer Technology and Application》
2011
0
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职称材料
2
Phase Transitions and Dielectric Properties of Lead-Free Bi0.5K0.5TiO3-BaTiO3 Piezoelectric Ceramics
Anucha Ruangphanit
Rangson Muanghlua
surasak niemcharoen
《Journal of Energy and Power Engineering》
2013
0
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