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录像带的表面粗糙度与磁特性的关系
1
作者
Glen M.Robinson
theodere j.szczch
+2 位作者
Craig D.Englund
Richard D.Cambronne
李正
《信息记录材料》
1990年第4期14-18,23,共6页
人们知道,磁记录介质的表面粗糙度影响记录和重放特性。我们用于涉法对一系列VHS 录像带表面进行了粗糙度测量。业已发现磁带的信号输出电平和噪声与其均方根(rms)表面粗糙度有密切的关系(相关系数>0.95)。并发现随着表面粗糙度的增...
人们知道,磁记录介质的表面粗糙度影响记录和重放特性。我们用于涉法对一系列VHS 录像带表面进行了粗糙度测量。业已发现磁带的信号输出电平和噪声与其均方根(rms)表面粗糙度有密切的关系(相关系数>0.95)。并发现随着表面粗糙度的增加,高频 RF 输出降低。这种关系在某种程度上符合三种理论模型。均方根表面粗糙度干涉法测量值乘以2.7,恰好等于计算出的磁头与磁带的间距(以下简称头一带间距)。
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关键词
表面粗糙度
均方根
输出电平
磁记录介质
干涉法
磁特性
相关系数
理论模型
粗糙度值
轮廓仪
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职称材料
题名
录像带的表面粗糙度与磁特性的关系
1
作者
Glen M.Robinson
theodere j.szczch
Craig D.Englund
Richard D.Cambronne
李正
出处
《信息记录材料》
1990年第4期14-18,23,共6页
文摘
人们知道,磁记录介质的表面粗糙度影响记录和重放特性。我们用于涉法对一系列VHS 录像带表面进行了粗糙度测量。业已发现磁带的信号输出电平和噪声与其均方根(rms)表面粗糙度有密切的关系(相关系数>0.95)。并发现随着表面粗糙度的增加,高频 RF 输出降低。这种关系在某种程度上符合三种理论模型。均方根表面粗糙度干涉法测量值乘以2.7,恰好等于计算出的磁头与磁带的间距(以下简称头一带间距)。
关键词
表面粗糙度
均方根
输出电平
磁记录介质
干涉法
磁特性
相关系数
理论模型
粗糙度值
轮廓仪
分类号
TQ58 [化学工程—精细化工]
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职称材料
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作者
出处
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1
录像带的表面粗糙度与磁特性的关系
Glen M.Robinson
theodere j.szczch
Craig D.Englund
Richard D.Cambronne
李正
《信息记录材料》
1990
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