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Cost-Effective Test Solutions for Smart Card and Other Integrated Flash Applications
被引量：
1
1
作者
thomas m. trexler
《半导体技术》
CSCD
北大核心
2004年第5期62-63,67,共3页
关键词
成本效率
测试
智能卡
集成闪存
EEPROM
DRAM
下载PDF
职称材料
题名
Cost-Effective Test Solutions for Smart Card and Other Integrated Flash Applications
被引量：
1
1
作者
thomas m. trexler
机构
Credence Systems Corporation
出处
《半导体技术》
CSCD
北大核心
2004年第5期62-63,67,共3页
关键词
成本效率
测试
智能卡
集成闪存
EEPROM
DRAM
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Cost-Effective Test Solutions for Smart Card and Other Integrated Flash Applications
thomas m. trexler
《半导体技术》
CSCD
北大核心
2004
1
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