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Cost-effective test solutions for smart card and other integrated flash applications
1
作者
thomas m.trexler
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期49-51,67,共3页
关键词
智能卡
闪存
多电测试
测试成本
下载PDF
职称材料
题名
Cost-effective test solutions for smart card and other integrated flash applications
1
作者
thomas m.trexler
机构
Credence Systems Corporation
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第6期49-51,67,共3页
关键词
智能卡
闪存
多电测试
测试成本
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
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1
Cost-effective test solutions for smart card and other integrated flash applications
thomas m.trexler
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2004
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