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TGEN:灵活的定时产生器体系结构
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作者 timothy alton ltx/tritllium 周敬猷 《微电子测试》 1994年第4期40-44,共5页
本文描述一种称为TGEN的器件,它是为下一代超大规模集成电路自动测试仪使用设计的集成电路。它使用一种新的定时体系结构,旨在与中央产生的周期定时信息脱钩。
关键词 TGEN VLSI 集成电路 定时产生器
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