为了研究工作气体气压变化对α和β源表面发射率绝对测量的影响,在α、β表面粒子发射率基准装置上,通过改变多丝正比计数器工作气体压强,对大面积α平面源241Am、β平面源204Tl和90Sr/90Y的表面粒子发射率进行了绝对测量,并通过阈值外...为了研究工作气体气压变化对α和β源表面发射率绝对测量的影响,在α、β表面粒子发射率基准装置上,通过改变多丝正比计数器工作气体压强,对大面积α平面源241Am、β平面源204Tl和90Sr/90Y的表面粒子发射率进行了绝对测量,并通过阈值外推方法对低能信号引起的漏计数率进行修正。结果表明,当工作气体压强在50~180 k Pa气压范围内变化时,不同气压条件下的α、β表面粒子发射率测量结果在实验不确定度范围内相一致。基于Geant4程序包对探测器结构进行建模,Monte Carlo方法给出的模拟结果得出的结论与实验结果相符。展开更多
文摘为了研究工作气体气压变化对α和β源表面发射率绝对测量的影响,在α、β表面粒子发射率基准装置上,通过改变多丝正比计数器工作气体压强,对大面积α平面源241Am、β平面源204Tl和90Sr/90Y的表面粒子发射率进行了绝对测量,并通过阈值外推方法对低能信号引起的漏计数率进行修正。结果表明,当工作气体压强在50~180 k Pa气压范围内变化时,不同气压条件下的α、β表面粒子发射率测量结果在实验不确定度范围内相一致。基于Geant4程序包对探测器结构进行建模,Monte Carlo方法给出的模拟结果得出的结论与实验结果相符。