X射线相位衬度成像的起源、发展和展望

X射线相位衬度成像是近年来发展迅速的X射线成像技术,由于其对低密度物体的成像能力优于传统的X射吸收衬度成像方法,在过去的30年中吸引了广泛的研究兴趣。本文对X射线相位衬度成像进行一次追根溯源的回顾,目的是从基础理论到成像方法,搞清楚X射线相位衬度成像的来龙去脉,在此基础上梳理已经发展的各种方法和近年来的新进展,分析不同方法之间的比较优势,力图从中洞察出可能的发展潜力,展望X射线相位衬度成像未来的发展前景。

Study of transmission grating diffraction efficiencies for soft X-ray

Tansmission grating spectrometers are extensively used to measure absthlute X-ray spectra in a photon-energy range below 1000 eV. The transmission grating,as its dispersive element, must be calibrated to obtain its danaction efficiencies. Calibrations of absolute distraction efficiencies of the tlansmission grating at photon energyof 844eV have been carried out on Beliing Synchrotron mediation Facility. With theaid of grating model, all of the grating structure paraxneters have been determinedand the absolute dchaction efficiencies in a photon-energy range below 2000eV havealso been calculated and discussed.

基于X射线近场散斑的波前检测技术研究现状

第四代同步辐射光源为多个研究领域提供了亮度和相干度更高、性能更加优异的X射线。为了充分发挥这些光束的潜力,需要精确的光束线装调和高质量的X射线光学元件。波前检测技术在这些方面发挥着重要作用。近10年来快速发展起来的基于X射线近场散斑的波前检测技术,具有简便易行、测量精度高等优点。利用散斑在深菲涅耳区形状和大小不变的特性,在参考图和样品图之间进行互相关计算,提取出入射波、待测光学元件透射波或反射波的波前信息。综述了利用X射线近场散斑开展波前检测的研究现状,介绍了X射线散斑追迹技术、X射线散斑向量追迹技术、X射线散斑扫描技术、自相关X射线散斑扫描技术、通用调制图样分析技术和Ptychographic X射线散斑追迹技术的原理、实验流程,以及各自的优势和应用。