计算机辅助透镜阵列合成全息术的研究

基于合成全息照相和计算机图形学原理,提出利用计算机制作初级体视图序列的方法,并与线阵透镜相结合,实现了计算机和光学联合制作体视全息图.研究了线阵透镜的成像规律和三维数据的计算机显示原理,获得了计算机制体视图与透镜阵列成像的对应关系,根据该对应关系设计了计算程序,并进行了实验验证.

陶瓷靶材对铁电薄膜的成分、结构和性能的影响

本文研究了不同烧结温度的陶瓷靶材对溅射所得到的Ｐｂ（Ｚｒ，Ｔｉ）Ｏ＿３薄膜的成分、结构和性能的影响。结果表明，由１２００℃时烧结的靶所制备的薄膜中ＰｂＯ的含量偏低，而９００℃时的薄膜中ＰｂＯ的含量却大于１；由这两种靶材都获得了结晶性较好的多晶钙钛矿结构，但９００℃时烧结的靶所制备的铁电薄膜的结晶性能更好，具有较好的铁电性能，其典型的矫顽场和剩余极化强度分别为７３．２ｋＶ／ｃｍ和２５．９μＣ／ｃｍ￣２。

LiNbO_3:In:Fe:Cu晶体中的双波长非易失存储

为了提高晶体的非易失存储性能,采用双波长存储技术实验研究了LiNbO3:In:Fe:Cu晶体中的非易失存储,折射率调制度为1.04×10-4,记录灵敏度达到0.965cm/J.与传统的双色非易失记录相比,该方法大幅度地提高了光栅的强度和记录的灵敏度.利用Kukhtarev带输运模型对双波长非易失记录过程中光栅的动态演化过程进行了数值模拟,同时讨论了氧化还原程度对双波长非易失全息记录的影响.理论与实验符合的较好.

气相色谱在材料专业课程设计教学中的应用

随着对新能源与绿色环境要求,迫切需要该领域的专业人才.气相色谱是现代分析领域中一种重要的分析测试手段,是大学开展材料类硕士生和本科生课程设计的重要检测手段.通过气相色谱在材料类专业课程设计中的应用概述,旨在深入了解气相色谱技术的有关内容,进一步通过材料类创新实验设计,理论、科研和教学并举,充分发挥气相色谱技术高灵敏度、快速和少样的优点,突出过程训练,鼓励自主实验,加强材料类硕士生和本科生的实验动手能力和数据分析能力,促进硕士生和本科生对专业知识的理解和应用.

微波水热法合成CdS纳米片在材料创新实验教学中的研究

太阳能分解水制氢光催化纳米材料成为当前研究的热点.培养纳米材料合成专业类人才是当前高等院校的重点.通过将科研课题引入材料创新实验,充分掌握微波水热对CdS纳米片光催化剂的合成及光催化产氢性能表征等内容.在明确微波水热法制备纳米材料操作流程和主要特点的同时,学习材料结构表征、物性测量和性能研究,提高材料专业本科生和研究生的创新思维和对相关专业知识的理解,培养本科生和研究生的动手能力以及分析和处理实验数据的能力,能够让本科生和研究生掌握国际热点方向,提高科研创新积极性.

In_(2)O_(3)/Zn_(0.5)Cd_(0.5)Se异质结材料创新实验设计及二氧化碳还原性能的研究

运用太阳能进行可见光催化二氧化碳还原是实现碳中和目标的有效途径。如何培养具有专业素养的环境治理人才是本科院校重要研究方向。本文以In_(2)O_(3)/Zn_(0.5)Cd_(0.5)Se异质结材料的合成为媒介,采用X射线衍射仪、扫描电子显微镜及二氧化碳光催化还原测试等方法研究In_(2)O_(3)/Zn_(0.5)Cd_(0.5)Se复合材料的合成方法、物相成分、形貌状态、化学组成及在碳中和领域的应用。该研究表明,以球形花状的In_(2)O_(3)纳米球作为基底材料,通过与Zn_(0.5)Cd_(0.5)Se复合得到的In_(2)O_(3)/Zn_(0.5)Cd_(0.5)Se异质结材料拥有更高的CO_(2)转化CO性能。通过该创新实验的设计,能够更好地培养材料类专业人才。

合成孔径同轴数字全息图的相位恢复再现（英文）

针对有缝拼接合成孔径同轴数字全息图的再现问题,通过对接缝处预先进行灰度均值填充,利用基于角谱理论的Gerchberg-Saxton(GS)加权改进相位恢复算法恢复相位,获得全息图记录面上的完整复振幅信息.仿真模拟了该方法对粒子场的检测,获得的再现像与模拟粒子靶的相关系数较传统方法得到的结果提高1倍以上,并可以有效抑制接缝处信息丢失对合成孔径同轴数字全息图再现像的影响,实现有缝拼接合成孔径同轴数字全息图的高质量再现.

关于修正的一维分子晶体模型的孤子激发

从立方型相互作用的一维分子晶体模型出发,在加入本征值平方项的近似下,运用能量极小原理和连续化近似,得到了考虑本征值平方项和立方型相互作用后一维分子晶体模型的孤子激发的修正解.在忽略了立方型相互作用和本征值平方项的近似下,孤子激发的修正解回复于通常的极化子解.并计算了孤子激发的峰宽、峰值和电子自陷势阱,分析了本征值平方项和立方型相互作用对孤子激发的峰值、峰宽和电子自陷势阱的影响.

体全息存储系统及噪声分析

利用激光器、空间光调制器、电荷耦合器件探测器等光电器件搭建了一套体全息存储系统,重点对编码格图进行了存储.另外,对体全息存储系统的噪声做了具体分析,这些噪声包括光学元件产生的噪声、晶体本身的噪声及页间及页内串绕等.