优质和大截面的KDP单晶,利用实验室常规的Lang貌术,一般检测不到任何层状分布的衍射衬度。本文叙述应用双晶衍射的(n,-n)几何排列对弱生长层及其相应的点阵参数相对变化的测量结果。从一对(100)晶片的(600)晶面的对称反射双晶形貌图证实...优质和大截面的KDP单晶,利用实验室常规的Lang貌术,一般检测不到任何层状分布的衍射衬度。本文叙述应用双晶衍射的(n,-n)几何排列对弱生长层及其相应的点阵参数相对变化的测量结果。从一对(100)晶片的(600)晶面的对称反射双晶形貌图证实,呈弱而弥散的层状衬度分布是垂直于 c 轴向的弱生长层,而生长层的点阵参数相对变化的最大范围为0.2~4.5×10~5。展开更多
文摘优质和大截面的KDP单晶,利用实验室常规的Lang貌术,一般检测不到任何层状分布的衍射衬度。本文叙述应用双晶衍射的(n,-n)几何排列对弱生长层及其相应的点阵参数相对变化的测量结果。从一对(100)晶片的(600)晶面的对称反射双晶形貌图证实,呈弱而弥散的层状衬度分布是垂直于 c 轴向的弱生长层,而生长层的点阵参数相对变化的最大范围为0.2~4.5×10~5。