X射线衍射角度的单片机测量系统

为精确测量 X 射线衍射角度,并使测量过程逐步智能化,开发了以8031为基础的单片机光编码角度测量系统,用以代替原有的机械角度测量系统,测角精度为10″,无往复调整误差.

CRI-100I晶体光轴定向仪的原理及其设计和应用

本文介绍了CRI-100I晶体光轴定向仪的工作原理、仪器设计、误差源及精度分析,同时也介绍了该仪器的应用。CRI-100I晶体光轴定向仪结构简单、工件装夹方便、定向精度高。当采用激光锥光干涉图时,对比度好、观察和读数方便。测出的数据经微机测角误差修正软件的处理,可以使测量值达到更高的精度。

激光频率分裂方法测角技术研究

本文的测角技术是一项新原理、新方法的科研课题，现已通过评审鉴定。这种测角技术灵敏度高，当监测一个物体有无转角变化时是一种理想的方法。

X射线衍射形貌相机控制系统的开发

介绍利用ＰＣ系列微机对一台引进的精密贵重仪器进行改造和二次开发的全过程．着重介绍ＩＥＥＥ－４８８标准接口总线在智能仪器设备控制中的作用、常用的编程方法、控制软件包的设计技巧．最后说明这种改造方案所获得的效益及其对于整个专业实验技术改造工作的实用意义．

利用反射式圆光栅的振镜转角测量

为了实现振镜旋转角度的高精度测量,设计了一种利用反射式圆形衍射光栅的角度测量系统,对该系统的测量原理、测量过程、测量精度等进行了相应的设计、仿真与验证。设计与振镜同轴的反射镜,搭配反射式圆光栅以及光敏检测器件,利用反射式圆光栅产生的±1级衍射光干涉,把振镜转角位移量转化为干涉条纹光强的变化,以实现振镜转角的测量。实验结果表明:该测量系统能实现振镜±10°的角度测量,测量精度为10″。实现了振镜旋转角度的高精度测量,并且该装置结构紧凑,满足扫描振镜的小巧化设计需求。

晶体旋转角度的矢算解法

本文介绍一种通过矢量运算求解晶体旋转前后位向关系的方法.适用于直角坐标晶系.不论旋转轴的位向如何都可以迅速得出结果,比用极射赤面投影图和乌氏同求解同样问题简便.

根据零层线照片调整晶体的技术

由零层线照片调整晶体的技术是由Kratky,Krcbs和Hcndorshot等发展起来的,并且逐步得到了改进。这种改进了的技术可以迅速可靠地调整晶体。使晶轴与转轴平行。本文介绍的方法不同于一般的方法。在一般的方法中是使放置晶体的测角头上的两个测角仪弧分别平行和垂直于入射的X射线来。根据拍摄的摆图的零层线情况,确定晶轴与转轴之间的夹角调整晶体。本文所介绍的方法是让测角头上的两个测角仪弧都和入射的X射线束呈45°角。这种方法比一般的方法所需要的计算比较少。

基于陀螺转子的非接触式光电测角方法

提出了一种利用表面刻有周期性规则图案的陀螺转子进行非接触式角度测量的方法,这种方法利用光电传感器读取陀螺转子表面的图案信息,从而实时测量陀螺转子的偏转角。介绍了这种测角方法的原理和测角装置的结构,并建立三维几何模型,详细推导了测角方法的角度解算算法,得到了陀螺转子在无偏转、一维偏转及二维偏转三种情况下的偏转角与光电传感器测得的陀螺转子表面图案信息之间的关系曲线或曲面。计算结果表明,两个正交方向的光电传感器共同探测,即可得到陀螺转子的偏转角及偏转方向,其结果唯一,且测角范围大于30°。该测角方法可用于静态测量和高速动态测量。